用途:
LW200-4JT適用于廠礦企業(yè)、高等院校及科研機(jī)構(gòu)作金相、巖相、礦相等材料表面組織結(jié)構(gòu)的薄片觀察檢測(cè)。也可用于電子工業(yè)部門作晶體，金屬陶瓷、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結(jié)構(gòu)、芯片及新材料等方面的檢驗(yàn)與分析。
主要技術(shù)參數(shù)：
1．三目鏡筒：傾斜45 °可旋轉(zhuǎn)360 ° 瞳距55mm-75mm，視度±5° 輔助倍數(shù)1.25X
2．高眼點(diǎn)目鏡：PLAN10X/20mm
3．平場(chǎng)物鏡: 4X、10X、40X（S）、100X(S，oil)
4．總放大倍數(shù)：50X-1250X
5．雙層載物臺(tái)：尺寸160mm*140mm，
移動(dòng)范圍 75*50mm
6．聚焦鏡：可調(diào)式阿貝聚焦鏡NA1.25
孔鏡可變光欄和視場(chǎng)光闌 濾色片座
7．調(diào) 焦 ：同軸粗微動(dòng)調(diào)焦 升降范圍25mm
微動(dòng)格值0.002mm
8. 光 源：柯勒照明，正交偏振裝置，濾色片（綠、黃、磨砂），反射光可調(diào)鹵素?zé)?2V50W，
透射光可調(diào)鹵素?zé)?2V20W
環(huán)保在線