X熒光光譜測(cè)厚儀適用于涂鍍層厚度及材料成分分析的無(wú)損檢測(cè)

性能優(yōu)勢(shì)：

    下照式設(shè)計(jì)：可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。

    無(wú)損變焦檢測(cè):可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，凹槽深度范圍0-90mm。

    微聚焦射線裝置：可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品，可測(cè)試各微小的部件。

    高效率的接收器：即使測(cè)試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。

    EFP*算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

X熒光光譜測(cè)厚儀規(guī)格：

    外形尺寸 ：550 mm x 660mm x 470 mm （長(zhǎng)x寬x高）

    樣品倉(cāng)尺寸 ：500mm×660 mm ×215mm （長(zhǎng)x寬x高）

    儀器重量 ：55kg

    供電電源 ：交流220±5V

    大功率 ：330W

    環(huán)境溫度：15℃-30℃

    環(huán)境相對(duì)濕度：<70%

應(yīng)用領(lǐng)域：

    線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測(cè)

    手表、精密儀表制造行業(yè)

    鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析  

    釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB        

    汽車、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測(cè)

    衛(wèi)浴產(chǎn)品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

    電鍍液的金屬陽(yáng)離子檢測(cè)

    其他樣品鍍層測(cè)試