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透射電鏡原位STM-TEM低溫電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)

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更新時(shí)間：2022-02-28 11:08:28瀏覽次數(shù)：159次

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透?射電鏡原位STM-TEM低溫電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，如本頁面您未找到需要的產(chǎn)品，請(qǐng)直接聯(lián)系客服??透射電子顯微鏡原位STM-TEM測(cè)量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量，并可在電學(xué)測(cè)量的同時(shí)，動(dòng)態(tài)、高分辨地對(duì)樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價(jià)態(tài)進(jìn)行綜合表征，大大地?cái)U(kuò)展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域

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透?射電鏡原位STM-TEM低溫電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，如本頁面您未找到需要的產(chǎn)品，請(qǐng)直接聯(lián)系客服

? 透射電子顯微鏡原位STM-TEM測(cè)量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量，并可在電學(xué)測(cè)量的同時(shí)，動(dòng)態(tài)、高分辨地對(duì)樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價(jià)態(tài)進(jìn)行綜合表征，大大地?cái)U(kuò)展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。

透射電鏡原位STM-TEM低溫電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)在標(biāo)配的STM-TEM樣品桿上集成低溫環(huán)境控制單元，從而實(shí)現(xiàn)在透射電鏡中進(jìn)行原位低溫電學(xué)測(cè)量的目的。

性能指標(biāo)

透射電鏡指標(biāo)：

● 兼容電鏡型號(hào)及極靴

● 可選雙傾版本，雙傾電學(xué)測(cè)量樣品桿Y軸傾角±25°（同時(shí)受限于極靴間距）

● 保證透射電鏡原有分辨率。

電學(xué)測(cè)量指標(biāo)：

● 包含一個(gè)電流電壓測(cè)試單元

● 電流測(cè)量范圍：１ nA-30 mA，9個(gè)量程

● 電流分辨率：優(yōu)于100 fA

● 電壓輸出范圍：普通模式±10 V，高壓模式±150 V

● 自動(dòng)電流-電壓（I-V）測(cè)量、電流-時(shí)間（I-t）測(cè)量，自動(dòng)保存

掃描探針操縱指標(biāo)：