PicoFemto系列透射電鏡原位多場耦合樣品桿，結(jié)合TEM+STM+MEMS原位技術(shù)，通過更換不同類型的
原位芯片及探針，在透射電鏡中實(shí)現(xiàn)光、電、力、熱多種原位功能。
PicoFemto 系列透射電子顯微鏡 原位多場耦合樣品桿是原位透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，借助該系統(tǒng)，研
究人員可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個(gè)可控的多場環(huán)境（包括光、電、力、熱等），從而對材料或者器
件等不同類型樣品實(shí)現(xiàn)多重激勵(lì)下的原位表征。
具備多種耦合方式：力-熱、力-電、光-電、光-電-力、光-電-力-熱
原位多場耦合樣品桿-技術(shù)指標(biāo)
透射電子顯微鏡內(nèi)不同溫度下的原位充放電研究
原位多場耦合樣品桿-產(chǎn)品選型
原位多場耦合樣品桿 具有單傾、雙傾（JEOL）兩個(gè)版本；
提供適配Thermofisher/FEI（賽默飛）、JEOL（日本電子）、Hitachi（日立）各型號透射電子顯微鏡及
極靴的不同型號樣品桿，支持定制。
原位多場耦合樣品桿-同內(nèi)部分用戶
原位多場耦合樣品桿-典型案例
1、加熱芯片+電學(xué)探針-------＞透射電鏡內(nèi)的原位加熱電學(xué)實(shí)驗(yàn)；
2、加熱芯片+力學(xué)探針-------＞透射電鏡內(nèi)的原位高溫力學(xué)實(shí)驗(yàn)；
3、電學(xué)芯片+電學(xué)探針-------＞透射電鏡內(nèi)的三端器件測量實(shí)驗(yàn)；
4、電學(xué)芯片+光纖單元-------＞透射電鏡內(nèi)的電制發(fā)光現(xiàn)象研究；
5、電學(xué)芯片+光纖單元-------＞透射電鏡內(nèi)的原位光電現(xiàn)象研究。
以上便是為您帶來的透射電鏡原位多場耦合樣品桿介紹，關(guān)于透射電鏡原位多場
耦合樣品桿價(jià)格請咨詢（微信同號）。
會(huì)員1.png)