X熒光測厚儀性能優(yōu)勢：

精密微型滑軌：精密的手動移動平臺，快速準定位所需檢測的樣品。

EFP*算法軟件：可檢測單鍍層，多鍍層，多元合金，甚至對于同種元素在不同層的厚度檢測也能分析，包括輕金屬鍍層，非金屬鍍層，達克羅，Nip鍍層測試，包括Ni與P的比例也均可檢測。

準直器和濾光片：多種準直器和濾光片電動切換，滿足各種測試方式的應用。

新一代高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達50W的功率實現更高的測試效率。

高效的散熱系統(tǒng)：對流通風過濾式風冷，儀器即便全天候開啟，都可保持恒溫恒效。

X熒光測厚儀技術參數：

測量元素范圍：CI(17)-U(92)

涂鍍層分析范圍：CI(17)-U(92)

分析軟件：EFP，可同時分析5層鍍層，10種元素，不同層有相同元素和有機物厚度也可分析

X射線裝置：升壓發(fā)射一體高分子聚合式W靶微聚焦射線管

接收器：日本東芝正比計數管，窗口面積≥150mm²

射線準直系統(tǒng)：垂直光路交換裝置搭配黃金準直器

濾光片：鋁、空、鎳

準直器：ø0.5mm

近測距光斑擴散度：10%

小測量面積：約0.04mm²

對焦方式：高敏感鏡頭（無需增加其他輔助傳感器），手動對焦