XTD(B)鍍層測(cè)厚儀專業(yè)表面處理檢測(cè)解決方案：    XTD系列測(cè)厚儀，于檢測(cè)各種異形件，特別是五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。    儀器優(yōu)點(diǎn)：    1. 分析精度*    2. 分析范圍廣泛 

儀器優(yōu)點(diǎn)：

1. 分析精度高

2. 分析范圍廣

3. 微區(qū)定位準(zhǔn)

4. 操作簡(jiǎn)單快捷

5. 結(jié)果可靠準(zhǔn)

XTD(B)鍍層測(cè)厚儀性能優(yōu)勢(shì)：

1.*的EFP算法：多層多元素、各種元素及有機(jī)物，甚至有同種元素在不同層也可準(zhǔn)測(cè)量。

2.上照式設(shè)計(jì)：實(shí)現(xiàn)可對(duì)超大工件進(jìn)行快、準(zhǔn)、穩(wěn)高效率測(cè)量。

3.自動(dòng)對(duì)焦：高低大小樣品可快速清晰對(duì)焦。

4.變焦裝置算法：可對(duì)大90mm深度的凹槽高低落差件直接檢測(cè)。

5.小面積測(cè)量：小測(cè)量面積0.04mm²

6.大行程移動(dòng)平臺(tái)：手動(dòng)XY滑臺(tái)100*150mm，自動(dòng)XY平臺(tái)210*260mm.

專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)在Alpha和Fp法的基礎(chǔ)上，計(jì)算樣品中每個(gè)元素的一次熒光、二次熒光、靶材熒光、吸收增強(qiáng)效應(yīng)、散射背景等多元優(yōu)化迭代開發(fā)出EFP核心算法，結(jié)合*的光路轉(zhuǎn)換技術(shù)、變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)，只需要少量的標(biāo)樣來校正儀器因子，可測(cè)試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機(jī)物層的厚度及成分含量。