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ATX210覆層測(cè)厚儀概述

ATX210覆層測(cè)厚儀是磁性、渦流一體的便攜式數(shù)字覆層測(cè)厚儀，它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量；既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)；廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域；是材料保護(hù)專業(yè)的儀器。

ATX210覆層測(cè)厚儀符合以下標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T4956-1985 磁性方法
GB/T4957-1985 渦流方法
JB/T8393-1996 磁性和渦流覆層測(cè)厚儀
JG889-95 《磁阻法測(cè)厚儀》
JJG818-93 《電渦流式測(cè)厚儀》

ATX210覆層測(cè)厚儀功能特點(diǎn)

采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，可無損地測(cè)量

1.磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金等)上非磁性覆層厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)

2.非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆層厚度(如:橡膠、油漆、陽極氧化膜等)

具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）
具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值、值（MAX）、最小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差
可采用兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正
具有存貯功能：可存貯100 個(gè)測(cè)量值
具有刪除功能：對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)
可設(shè)置限界：對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警；并可用直方圖對(duì)一批測(cè)量值進(jìn)行分析
具有電源欠壓指示功能
操作過程有蜂鳴聲提示
具有錯(cuò)誤提示功能，通過屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示
設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式

ATX210覆層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)

測(cè)頭類型：F | N
測(cè)量原理：磁感應(yīng) | 電渦流
測(cè)量范圍：0-1500um | 0-1500um 0-40um(銅上鍍鉻)
低限分辨力：0.1um
探頭連接方式：一體化
示值誤差：F | N

   1.一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：±[2%H+1]
   2.兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：±[（1%~3%）H+1]
   3.一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：±[2%H+1.5]
   4.兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：±[（1%~3%）H+1.5]