SpectrumTEQ-PL系列光致發(fā)光量子效率測(cè)量系統(tǒng)，針對(duì)器件的光致發(fā)光特性進(jìn)行有效測(cè)量，可在手套箱內(nèi)完成搭建，無(wú)需將樣品取出，即可完成光致發(fā)光量子效率的測(cè)試。系統(tǒng)搭配QE Pro光譜儀信噪比高、雜散光低，動(dòng)態(tài)范圍大，適合不同波段和強(qiáng)度的激發(fā)光和發(fā)射光測(cè)量。同時(shí)，系統(tǒng)配有強(qiáng)大的測(cè)試軟件，向?qū)降能浖僮鬟壿嬜寽y(cè)試過(guò)程變的簡(jiǎn)單，迅速。

測(cè)量參數(shù)

• 量子效率
• 量子效率隨不同激發(fā)能量變化的曲線
• 輻射通量，光通量
• 發(fā)射光譜
• 亮度，色坐標(biāo)
• 主波長(zhǎng)

應(yīng)用領(lǐng)域

• 無(wú)機(jī)光致發(fā)光
• 有機(jī)光致發(fā)光
• EL器件封裝前體

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

• 體積小巧：便于靈活使用及運(yùn)輸
• 原位測(cè)量：可放至手套箱內(nèi)，實(shí)現(xiàn)原位測(cè)量
• 結(jié)構(gòu)穩(wěn)定：設(shè)備無(wú)需頻繁校準(zhǔn)
  

產(chǎn)品參數(shù)