TMS透過(guò)率測(cè)量?jī)x能快速準(zhǔn)確地測(cè)量各類平面、球面、非球面等光學(xué)元件的透過(guò)率，可用于實(shí)時(shí)顯示單、多點(diǎn)波長(zhǎng)透過(guò)率數(shù)據(jù)及波段平均透過(guò)率數(shù)據(jù)。適用于手機(jī)蓋板IR孔、棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽(yáng)膜、濾光片等平面、球面非球面光學(xué)元件及組合鏡頭等的檢測(cè)。
儀器特點(diǎn)：
- 檢測(cè)范圍廣：球面、非球面、塑料制品散透射等測(cè)量
- 測(cè)試速度極快，1秒出結(jié)果，實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品全檢
- 極小樣品的透過(guò)率檢測(cè)
測(cè)試對(duì)象：
- 手機(jī)IR孔
- 光學(xué)元件
- 太陽(yáng)眼鏡
- 漫、散射塑料片
技術(shù)參數(shù)：
型號(hào) | TMS （I型） | TMS （Ⅱ型） | TMS （III型） |
|---|---|---|---|
| 探測(cè)器 | Sony線形CCD陣列 | Hamamatsu背照式2D-CCD | Hamamatsu背照式2D-CCD |
| 檢測(cè)范圍 | 380-1000nm（TMS-UV:200-850nm） | 380-1100nm（TMS-UV:200-1100nm） | 360-1100nm（TMS-UV:225-1000nm） |
| 信噪比（全信號(hào)） | 250 : 1 | 450 : 1 | 1000 : 1 |
| 相對(duì)檢測(cè)誤差 | <0.6%（410-900nm） | <0.4%（410-1000nm） | <0.2%（410-1000nm） |
| 檢出限 | 0.1% | 0.05% | 0.01% |
| CCD制冷 | 未制冷 | 未制冷 | -20℃ |
| 單次測(cè)量時(shí)間 | <1s | ||
| 樣品尺寸 | ≥Φ1.5mm (顯微:≥0.8mm) | ||
| 光斑 | 可調(diào)，≥ Φ0.6mm(顯微≥0.3mm) | ||
| 操作系統(tǒng)/接口 | Windows7~Windows10/ USB2.0 | ||
| 電源/功率 | 220V-50HZ /6W | ||
環(huán)保在線