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詳細介紹
173Plus多角度粒度分析儀完美結合了背向光散射技術與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術，擁有15°、90°與173°三個散射角度，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性，實現(xiàn)在同一臺粒度分析儀中，即可以同時兼顧大、小顆粒的散射光信號，又可以有效地提高了測量濃度上限，是目前市場上功能強大的粒度分析儀。
詳細說明：
作為先將背向光散射技術（Back-Scattering）引入高濃度粒度分析的廠家，Brookhaven公司應用全新的光纖技術將背向光散射技術與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術進行了完美結合，突破性地推出了結合15°、90°與173°三個散射角度的173Plus多角度粒度分析儀。隨著173Plus的出現(xiàn)，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性，實現(xiàn)在同一臺粒度分析儀中，即可以同時兼顧大、小顆粒的散射光信號，又可以有效地提高了測量濃度上限，高可達40%wt。173Plus是目前市場上功能強大的粒度分析儀。
NanoBrook產(chǎn)品系列
項目 | 173 | 173Plus | Omni | ZetaPALS | |
功
能 | 粒度測量功能 | ● | ● | ● | ○ |
分子量測量功能 | ● | ● | ● | ○ | |
Zeta電位測量功能 | ○ | ○ | ● | ● | |
技
術
參
數(shù) | 散射角 | 15°與173° | 15°、90°與173° | ○ | |
粒度范圍 | 0.3nm-10μm | ○ | |||
分子量測定范圍 | 342～2×107Dalton | ○ | |||
相關器 | 4×522個物理通道，4×1011個線性通道 | ○ | |||
Zeta電位適用粒度范圍 | ○ | 1nm～100μm | |||
Zeta電位范圍 | ○ | －500mV～500mV | |||
電導率范圍 | ○ | 0-30S/m | |||
電泳遷移率范圍 | ○ | 10-11～10-7m2/V.s | |||
電極 | ○ | 開放式久型電極 | |||
系 統(tǒng) 參 數(shù) | 溫控范圍與精度 | －5～110℃，±0.1℃ | |||
激光源 | 40mW光泵半導體激光器（100mW可選） | ||||
檢測器 | PMT或APD | ||||
分析軟件 | Particle Solution粒度與Zeta電位分析軟件 | ||||
大小及重量 | 233mm（H）×427mm（W）×481mm（D），15kg | ||||
選
件 | BI-ZTU自動滴定儀 | 可對PH值、電導率和添加劑濃度作圖 | |||
BI-870介電常數(shù)儀 | 直接測量溶劑的介電常數(shù)值 | ||||
BI-SV10粘度計 | 用于測量溶劑及溶液的粘度 | ||||
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