TranSpec Micro薄膜厚度測量儀產(chǎn)品描述

TranSpec Micro新的光纖耦合TranSpec Micro薄膜厚度顯微鏡可以將薄膜厚度測量點(diǎn)的大小降到50-100um。測量點(diǎn)的圖像可通過裝在顯微鏡上的特殊彩色相機(jī)實(shí)時(shí)查看。TranSpec Micro薄膜厚度測量儀和我們TranSpec和TranSpec Lite儀器一樣采用白光干涉原理。為了測量非常小的點(diǎn)，TranSpec Micro使用裝有實(shí)時(shí)顯示相機(jī)的光纖耦合顯微鏡。光纖耦合纖維鏡可以將薄膜厚度測量點(diǎn)的大小降到50-100um（根據(jù)放大倍數(shù)的不同），測量點(diǎn)的圖像可通過裝在顯微鏡上的特殊彩色相機(jī)實(shí)時(shí)查看。

TranSpec Micro薄膜厚度測量儀應(yīng)用領(lǐng)域

主要用于

半導(dǎo)體、主要的汽車燈以及CD生產(chǎn)商進(jìn)行有機(jī)膜厚測試