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詳細介紹
水平模式熱膨脹儀 L75PT HS/HD的開發(fā)是為了滿足學術和實驗室研究的需求。該系統(tǒng)可以精確測量固體、液體、粉末和膠體的熱膨脹系數(shù)。該系統(tǒng)的*設計保證了zui高的精度、重復性和準確性。L75 PT HS/HD水平模式熱膨脹儀系列適用于真空、氧化性和還原性氣氛中測量。
水平模式熱膨脹儀 L75PT HS/HD該系統(tǒng)可以用于單樣品，雙樣品或差示條件下測量，以獲得更高的精度或樣品通量。該膨脹儀可選機械和電子部件方便拆卸拆便于在手套箱中的測量使用。
利用自動壓力控制設備，根據(jù)研究需要，接觸壓力可以連續(xù)地在10—1000mN調(diào)整。利用此特性可以連續(xù)地選擇控制樣品膨脹或收縮整個過程中的接觸壓力。
可以測量以下的物理性質(zhì)：
熱膨脹系數(shù)，線性熱膨脹，物理熱膨脹，燒結溫度，相變，軟化點，熱分解溫度，玻璃化轉(zhuǎn)變溫度。
| 配置 | 單桿或雙桿熱膨脹儀 |
| 溫度范圍 | -180—— 500/700/1000°C |
| RT —— 1000/1400/1600/2000°C | |
| 加熱/冷卻速率* | 0.01 K/min up to 100 K/min |
| 樣品支架 | 熔融石英< 1100°C |
| Al2O3 < 1750°C | |
| 石墨 < 2000°C | |
| 樣品長度 | zui大 50 mm |
| 樣品直徑 | 7/12/20 mm |
| 可調(diào)樣品壓力 | zui大 1000 mN |
| 測量范圍 | 500/5000 µm |
| 分辨率 | 0.125 nm |
| 氣氛 | 還原性、惰性、氧化性, 靜態(tài)/動態(tài) |
| DTA計算 | 可選 |
| 電路板 | 集成式 |
| 接口 | USB |
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