SunScan專業(yè)版植物冠層分析儀是一款簡便的測量和分析冠層中入射和透射光合有效輻射（PAR）的系統(tǒng)，提供了關于影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息，如葉面積指數（LAI）。SunScan冠層分析系統(tǒng)不需要等待特殊的天氣條件進行使用，可以在大多數光照條件下進行測量工作（但是盡量是在接近中午的時候）。專業(yè)版比標準版配置上增加了BF5日照傳感器，用來參照測量直接和散射的入射光，提高測量精度

SunScan專業(yè)版植物冠層分析儀技術規(guī)格：

Sunscan探頭探測區(qū)域：100cm(長)×1.3cm(寬)，傳感器間距1.56cm

光譜范圍：400～700nm（PAR）

測量時間：120毫秒

讀數范圍：0～2500 μmol.m-2.s-1

分辨率：0.3 μmol. m-2.s-1

線性：優(yōu)于1%

精度：±10%

模擬輸出：1mV/μmol. m-2.s-1

通訊端口：RS232，9針D型接口

防護等級：IP65

工作溫度：0～60℃

尺寸：130×10×13cm

重量：1.7kg

供電：4節(jié)AA堿性電池，可以使用1年

掌上數據管理器：顯示屏1/4 VGA防日光顯示屏

操作系統(tǒng)：Windows Mobile 6

顯示選項：葉面積指數（LAI）、平均光合有效輻射、所有單個傳感器的讀數

防護等級：IP67

工作溫度：-30～+60℃

跌落高度：1.2米

供電：可充電電池，可連續(xù)使用12小時

內存：>100MB可用

尺寸規(guī)格：165×95×45毫米

重量：450克