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RHESCA CSR-5000超薄膜附著強度測試儀

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更新時間：2024-06-10 08:55:10瀏覽次數(shù)：104次

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上海衡鵬企業(yè)發(fā)展有限公司

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產(chǎn)品簡介

RHESCACSR-5000超薄膜附著強度測試儀概要：基于JISR-3255標準，以MICROSCRATCH法評價光學薄膜、半導體擴散工程、表面改質(zhì)以及記憶媒體等各種用途的薄膜與基材，或薄膜與界面之間的密著力（附著強度）的超薄膜附著強度測試儀

詳細介紹

RHESCA CSR-5000超薄膜附著強度測試儀概要：

基于JIS R-3255標準，以MICRO SCRATCH法評價光學薄膜、半導體擴散工程、表面改質(zhì)以及記憶媒體等各種用途的薄膜與基材，或薄膜與界面之間的密著力（附著強度）的超薄膜附著強度測試儀。為成膜研究與測試所的測試設備。

CSR-5000超薄膜附著強度測試儀特點：

CSR-5000采用高感度的能夠檢測出薄膜破壞的MICRO SCRATCH法，測試納米級別的薄膜的附著強度

可測量膜厚μm以下的超薄膜的密著強度

加熱環(huán)境下評價可能

鏡片等曲面測量可能

可以進行以特定荷重來評價的特定負荷測試

測試部位的設定以及測試后的劃傷觀察等簡單易行

測試不需要花費很多時間(1次測試約1～2分鐘)

CSR-5000超薄膜附著強度測試儀的規(guī)格參數(shù)