介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測試儀由Q表、測試裝置，電感器及標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成，能對絕緣材料進(jìn)行高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)的測試。它符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

詳細(xì)介紹

介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測試儀由Q表、測試裝置，電感器及標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成，能對絕緣材料進(jìn)行高頻介質(zhì)損耗角正切值（tanδ）和介電常數(shù)（ε）的測試。它符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

2.1 tanδ和ε性能：

2.1.1 固體絕緣材料測試頻率10kHz～60MHz的tanδ和ε變化的測試。

2.1.2 tanδ和ε測量范圍：

tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50

2.1.3 tanδ和ε測量精度（1MHz）：

tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%

2 主要技術(shù)指標(biāo)：
2.1 測試信號頻率范圍：10kHz～60MHz，數(shù)字合成，可數(shù)字設(shè)置或連續(xù)調(diào)節(jié)，五位有效數(shù)顯。
2.2 Q值測量范圍：1～1000四位數(shù)顯，分辨率0.1Q。分100、316、999三檔，量程可自動切換。
2.3 Q值固有誤差：±5%±3% 滿刻度值。
2.4 有效電感測量范圍：0.1µH～1000mH。
2.5 電感測量誤差：≤5%±0.02µH
2.6 調(diào)諧電容特性：
2.6.1可調(diào)電容范圍：40pF～500 pF。
2.6.2 精確度：±1% 或0.5pF。
2.6.3微調(diào)電容器：-3pF～0～+3pF，分辨率：0.2pF
2.6.4殘余電感值：約30nH。
2.7 Q預(yù)置功能：Q預(yù)置范圍：1～1000均可。

1工作特性
1.1 平板電容器：
1.1.1 極片尺寸：
c類-38：Φ38mm.
c類-50：Φ50mm.
1.1.2 極片間距可調(diào)范圍和分辨率：
≥8mm， ±0.002mm
1.2 夾具插頭間距：
25mm±1mm
1.3夾具損耗角正切值
≤2.5×10-4

附表二,LKI-1電感組典型測試數(shù)據(jù)

線圈號測試頻率 Q值分布電容p 電感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz   202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7   49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1   25MHz 50MHz 233211   0.9 0.125μH

標(biāo)簽：介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀 介電常數(shù)測試儀 介質(zhì)損耗測試儀 介質(zhì)損耗介電常數(shù)測試儀

關(guān)鍵詞：絕緣材料電容器

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