由于被測(cè)件基底和被測(cè)表面粗糙度的變化,使測(cè)量結(jié)果相差懸殊,因而不能得到真實(shí)的鍍層厚度值。我們作了幾組試驗(yàn),分別示于圖1、圖2
試驗(yàn)結(jié)果表明,當(dāng)被測(cè)基底和被測(cè)表面粗糙度Rz值在6.3拜m(包括6.3戶m)以下時(shí),對(duì)被測(cè)結(jié)果的影響可以忽略不計(jì);當(dāng)粗糙度R。值在6.3尸m以上時(shí),對(duì)被測(cè)結(jié)果有明顯的影響。對(duì)于刀痕較寬的被測(cè)表面,其測(cè)量結(jié)果受測(cè)點(diǎn)位置的影響很大。對(duì)這樣的被測(cè)件,取4一5個(gè)測(cè)點(diǎn)的平均值作為測(cè)量結(jié)果,可以相對(duì)地減小其影響。表面粗糙度不同,直接改變了磁路間隙的大小。粗糙度數(shù)值越大,氣隙越大,增大了線圈到基底的距離,所以測(cè)量值增大。反之,測(cè)量值減小,更接近鍍層的真實(shí)厚度。

錫鉛合金鍍層測(cè)厚儀試驗(yàn)表明,測(cè)量部位不同,測(cè)量結(jié)果的數(shù)值就不同,如靠近邊緣處和棱角處,由于磁路截面減小,渦流效應(yīng)降低,測(cè)量結(jié)果數(shù)值增大。所以,應(yīng)當(dāng)避免在靠近邊緣和棱角處測(cè)量。應(yīng)用領(lǐng)域
耐磨鍍層 如鍍Ni、鍍Cr、鍍Ni-W、Ni-Co、NiP合金
減摩鍍層 如鍍Sn、In、Sn-In合金
熱加工鍍層 如防滲碳鍍Cu、防滲氮鍍Sn
反光鍍層 如鍍Ag、光亮Ni等
防反光鍍層 如鍍黑Ni、鍍黑Cr等
導(dǎo)電鍍層 如鍍Au、Ag、Sn、Cu等
磁鍍層 如鍍Ni-Fe合金、Ni-Co合金等
抗氧化鍍層 如鍍Cr、鍍Pt-Rh合金
耐酸鍍層 如鍍Zn、Sn-Pb合金等
錫鉛合金鍍層測(cè)厚儀
鍍層測(cè)厚儀Thick 600采用下照式結(jié)構(gòu)，儀器操作簡(jiǎn)單，以實(shí)在的價(jià)格定位滿足鍍層厚度測(cè)量的要求。