詳細(xì)介紹
日立FME固定式直讀光譜儀是一款全新直讀光譜儀,集強(qiáng)大的分析性能和緊湊型設(shè)計為一體。其較寬的波長范圍使其適用于在金屬質(zhì)量保證和生產(chǎn)工藝控制過程中分析所有相關(guān)元素。同時,F(xiàn)M EXPERT配備緊湊型CCD光學(xué)系統(tǒng),還可分析低含量氮。
FM EXPERT結(jié)合了我們智能光學(xué)系統(tǒng)和改良的等離子體視圖,確保在整個波長范圍內(nèi)實現(xiàn)強(qiáng)大的分析性能,且檢出限低。氬氣凈化光學(xué)系統(tǒng)降低了維護(hù)周期和運營成本。FM EXPERT的密封氬氣系統(tǒng)屬于同類較優(yōu)產(chǎn)品,可提供較優(yōu)光學(xué)等離子體觀測視野、噴射電極技術(shù),確??煽康牡治?,其檢出限為30ppm。
日立FME固定式直讀光譜儀
使用既耐用又可靠的技術(shù),獲得高分析性能
很短的開機(jī)和測量時間
三面開放的火花臺
高分辨率多CCD光學(xué)系統(tǒng),以獲得較高的光譜分辨率
多樣式的結(jié)果,分析報告和結(jié)果處理選項
通過峰值位置校準(zhǔn)(PPA)確保優(yōu)異的*穩(wěn)定性
即使在惡劣條件下也可持續(xù)使用
日立分析儀器專注于高科技分析解決方案,幫助數(shù)以千計的企業(yè)降低成本,降低風(fēng)險,提高生產(chǎn)效率。我們實驗室級和強(qiáng)大高性能現(xiàn)場檢測設(shè)備如光電直讀光譜儀、X射線熒光光譜(XRF)、X熒光測厚儀(鍍層測厚儀)、激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀(LIBS)、油品分析儀、土壤分析儀等為客戶提供材料和涂鍍層分析,在整個生產(chǎn)周期中增加價值,包括從原材料勘探到來料檢驗、生產(chǎn)和質(zhì)量控制到再循環(huán)。