EA6000VX能量色散型X射線熒光分析儀儀器簡(jiǎn)介：

通過(guò)位置精度較高的自動(dòng)樣品臺(tái)和高靈敏度性能，可以對(duì)微小異物進(jìn)行快速掃描和檢查，也可對(duì)電子基板等復(fù)合材料制品的微小特定部位實(shí)施定點(diǎn)精確測(cè)量。

EA6000VX能量色散型X射線熒光分析儀型號(hào)名稱(chēng)：EA6000VX

X射線源：50kV、1mA、空冷式

檢測(cè)器：半導(dǎo)體檢測(cè)器（無(wú)需液氮）

一次濾波器：6種模式自動(dòng)切換

準(zhǔn)直器：0.2、0.5、1.2、3mm 自動(dòng)切換

樣品室大?。篧580mm×D450mm×H150mm
                    可全面測(cè)量250mm×200mm樣品

特點(diǎn)：

1.快速掃描

憑借zui大150萬(wàn)CPS的高計(jì)數(shù)率檢測(cè)器完成高靈敏度的測(cè)量，以及借助zui大250 mm×200 mm范圍掃描的快速電動(dòng)樣品臺(tái)，實(shí)現(xiàn)快速掃描測(cè)量。對(duì)于范圍為100 mm×100 mm的情況，可在2～3分鐘內(nèi)檢測(cè)出端子部分的鉛并確定其位置。

2.連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量

zui多可500個(gè)測(cè)量位置進(jìn)行連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量。由于采用自動(dòng)測(cè)量方式，因此在測(cè)量大量樣品是，也可發(fā)揮高效率。

3.高精密重合

通過(guò)Telecentric Lens 系統(tǒng)和高速?高精度XY平臺(tái)，將元素掃描像和光學(xué)成像進(jìn)行重合對(duì)微小部品的中心部分的目標(biāo)元素也能進(jìn)行簡(jiǎn)單觀察。zui大250 mm×200 mm上方觀察，并且能夠?qū)崿F(xiàn)廣域位置zui小誤差為100 μm以?xún)?nèi)的精確定位。

4.微小部位測(cè)量

在FT系列中被*的測(cè)量鍍膜膜厚儀器就是由EA6000VX。不用說(shuō)極薄的鍍金等膜厚測(cè)量，即便是在進(jìn)行鍍膜鐘所含的Pb等有害物質(zhì)分析的膜壓測(cè)量的同時(shí)也可進(jìn)行膜厚測(cè)量。比如也可進(jìn)行無(wú)鉛焊錫鍍層及引線框架上Sn鍍層，無(wú)電解Ni鍍膜中所含的有害物質(zhì)的濃度測(cè)量。