對于需要性能和易用性的多用戶實驗室而言，最完整的SEM。

新型Prisma E掃描電子顯微鏡（SEM）將各種成像和分析模式與新的自動化相結合，為同類儀器提供最完整的解決方案。

它非常適用于需要高分辨率，樣品靈活性和易于使用的操作界面的工業(yè)研發(fā)，質量控制和故障分析應用。Prisma E成功獲得了極為成功的Quanta SEM。

出色的成像

多用戶實驗室需要顯微鏡在短時間內生成具有相關數(shù)據(jù)的高質量圖像。Prisma E采用基于四極管組件的強大成像系統(tǒng)滿足了這一需求，

可在各種光束能量和真空條件下提供出色的結果。在所有這些條件下，地形圖和成像圖都提供必要的樣本信息。通過同步采集，該信息可供隨后進一步解釋和分析。

輕松導航

尋找感興趣的區(qū)域甚至找到樣品本身都是一項繁瑣的工作......但不是在Prisma E上。室內導航相機（Nav-Cam）

提供樣品架的詳細照片，使其易于使用一個會話中的多個樣本并逐個導航到它們。在示例中，只需單擊它即可轉到感興趣的區(qū)域。

導航凸輪圖像與樣本一起旋轉，因此導航非常直觀。

樣本靈活性

今天的研究超越了傳統(tǒng)金屬和涂層樣品 - 非導電材料，大型或重型樣品，臟樣品甚至濕樣品都需要在微觀尺度上進行研究。

Prisma E具有三種成像模式 - 高真空，低真空和ESEM™ - 適用于任何SEM的泛樣品。此外，Prisma E的腔室適合大樣品，

并配備110x110 mm 5軸電動中心平臺，傾斜范圍為105°，可以從各個角度觀察樣品。

支持分析

Prisma E的分析室支持對元素（EDX，WDS）和晶體學（EBSD）樣品數(shù)據(jù)的日益增長的需求，

該分析室支持多個EDX檢測器以提高通量并消除陰影效應。此外，分析室支持共面EDX / EBSD和平行光束WDS，

以確保所有技術的定位。得益于Prisma E的原位功能，即使在絕緣或高溫樣品上也能獲得可靠的分析結果。
光子學，地球科學，陶瓷，玻璃和故障分析應用的附加樣品信息來自的可伸縮RGB陰極發(fā)光檢測器。