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硅光電式的OLED器件壽命測試FS-MP-HC

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更新時間：2023-09-13 13:30:07瀏覽次數：437次

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蘇州弗士達科學儀器有限公司

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產品簡介

硅光電式的OLED器件壽命測試FS-MP-HT夾具底部帶有加熱板，利用高溫加速OLED器件的老化，進行高溫條件下的器件壽命測試

詳細介紹

硅光電式的OLED器件壽命測試FS-MP-HC

根據用戶不同溫濕度環(huán)境測試需求，可增加高溫箱、高低溫箱、恒溫恒濕箱等，對器件的壽命測試環(huán)境進行控制。其溫度控制范圍、濕度控制范圍和多層腔式均可根據客戶的需求訂制。

硅光電式的OLED器件壽命測試FS-MP-HC

標準恒溫恒濕箱參數

溫度范圍： -40～100 ℃ （標準型，其它溫度范圍可訂制）溫度均勻度：±2.0℃溫度波動度： ± 0.5℃溫度精度：1 ℃

軟件功能
(1)測量模式：恒壓、恒流、方波電壓、方波電流(2)軟件所有通道可獨立配置電流電壓測試條件，互不影響。-每個發(fā)光點可以獨立設置電壓或電流等參數，獨立開始和停止測量。支持用戶在測試過程中，增加或更換其中幾片產品。-測量時間控制：有3個時間段設計，每個通道每個時間段可以分別設置測量時間和間隔等參數。-測量前預處理功能：有4段預處理，每段預處理都可以設置溫度、電流、電壓和時間等參數，正常測量前先以預處理條件進行老化，然后再進入正常壽命測試程序。(3)軟件所有通道可實時檢查詳細測量數據及圖表。-數據包含樣品信息、測量時間、已測時長、光感電流、亮度剩余比例、電壓、電流、預估壽命溫度、濕度、亮度等。-多通道曲線圖：支持選擇多通道電壓、電流、亮度衰減、壽命時長等數據，在一張圖表里顯示曲線，便于比較篩選。-數據實時存儲，異?；謴秃罂烧一財祿⒗^續(xù)測試(中斷的時間不累積，能自動減除)。-數據實時處理和記錄，自動生成數據圖表和測試報告， Datalog及Eventlog實時記錄。