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菲希爾XDL鍍層測厚儀

參  考  價(jià):面議
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產(chǎn)品型號(hào)

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廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

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更新時(shí)間:2022-08-22 15:12:12瀏覽次數(shù):194次

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菲希爾XDL鍍層測厚儀由于測量距離可以調(diào)節(jié)(可達(dá) 80 mm),適用于測試已布元器件的電路板或腔體結(jié)構(gòu)的部件。

XDL / XDLM / XDAL

憑借電機(jī)驅(qū)動(dòng)(可選)與自上而下的測量方向,XDL® 系列鍍層測厚儀能夠進(jìn)行自動(dòng)化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準(zhǔn)直器以及探測器不同組合的多種型號(hào),從而能夠根據(jù)不同的測量需求選擇的 X 射線儀器。

特性:

  • XDL系列鍍層測厚儀可配備多種硬件組合,可完成各種測量任務(wù)

  • 由于測量距離可以調(diào)節(jié)(可達(dá) 80 mm),適用于測試已布元器件的電路板或腔體結(jié)構(gòu)的部件

  • 通過可編程 XY 工作臺(tái)與 Z 軸(可選)實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化的批量測試

  • 使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器,非常適用于測量超薄鍍層(XDAL 設(shè)備)

應(yīng)用:

鍍層厚度測量

  • 大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量

  • 電路板上較薄的導(dǎo)電層和/或隔離層

  • 復(fù)雜幾何形狀產(chǎn)品上的鍍層

  • 鉻鍍層,如經(jīng)過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品

  • 氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質(zhì)涂層厚度測量

材料分析

  • 電鍍槽液分析

  • 電子和半導(dǎo)體行業(yè)中的功能性鍍層分析

 

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