AV6362C近紅外光譜儀采用*的雙通光柵分光單元、高分辨率衍射光柵定位、光學(xué)楔形延遲消偏振、小信號(hào)和寬波段光譜檢測(cè)等技術(shù)研制而成。整機(jī)性能指標(biāo)達(dá)到同類產(chǎn)品*水平。適用于600～1700nm波段范圍的LED、LD、SLD、DFB-LD、EDFA、光纖、光纖光柵、光學(xué)濾波器、光纖放大器、波分復(fù)用器等光電子元器件及有關(guān)系統(tǒng)的測(cè)試。

功能特點(diǎn)

主要特點(diǎn)

● 0.05nm小分辨帶寬

● -90 dBm電平測(cè)量靈敏度 

● ndB損耗分析

● 包絡(luò)分析

● 測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)輸出

● 激光光源測(cè)試

● 光學(xué)濾波器測(cè)試

0.05nm小分辨帶寬

    AV6362C近紅外光譜儀支持不同光譜分辨帶寬的設(shè)置，寬譜光源與窄譜線光源測(cè)試靈活切換。并且小分辨帶寬可達(dá)0.05nm。

-90 dBm電平測(cè)量靈敏度 

通過(guò)低噪聲放大、雜散光抑制、數(shù)字濾波等技術(shù)，*地降低了儀器噪聲，提高了信噪比，電平測(cè)量靈敏度在1250nm～1600nm波段優(yōu)于－90dBm。

ndB損耗分析

產(chǎn)品具有強(qiáng)大的分析功能，快速分析光譜參數(shù)，儀器自身就能完成復(fù)雜的計(jì)算。分析功能包括波峰檢索、閾值分析、損耗分析、邊模分析、包絡(luò)分析、均方根和光功率分析等，滿足您的全部需求。

測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)輸出

光譜測(cè)試數(shù)據(jù)可用.bmp或.osd格式文件存儲(chǔ)和輸出。

激光光源測(cè)試

儀器可以對(duì)多類型激光器進(jìn)行一鍵測(cè)試與分析，實(shí)現(xiàn)所有測(cè)試項(xiàng)目批處理。