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偏光顯微鏡

參考價: ￥ 330

訂貨量: ≥1 件

具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號BX53P

品牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所在地蘇州市

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更新時間：2022-08-22 15:38:48瀏覽次數(shù)：839次

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英菲洛精密科技（蘇州）有限公司

經(jīng)營模式：生產(chǎn)廠家

商鋪產(chǎn)品：146條

所在地區(qū)：江蘇蘇州市

聯(lián)系人：顧（經(jīng)理）

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產(chǎn)品簡介

觀察對像	金相顯微鏡	光源類型	其他
目數(shù)	單目

偏光顯微鏡具有鮮明的偏光成像，是地質(zhì)學家的理想之選。比如礦物鑒定、晶體光學特性的分析和巖石薄片的鑒定等各種研究，都得益于穩(wěn)定的顯微鏡系統(tǒng)性和精密的光學系統(tǒng)。

詳細介紹

奧林巴斯BX53P偏光顯微鏡具有鮮明的偏光成像，是地質(zhì)學家的理想之選。比如礦物鑒定、晶體光學特性的分析和巖石薄片的鑒定等各種研究，都得益于穩(wěn)定的顯微鏡系統(tǒng)性和精密的光學系統(tǒng)。

偏光顯微鏡用于錐光鏡檢和正像鏡檢的勃氏鏡

采用U-CPA錐光觀察附件使錐光鏡檢和正像鏡檢之間的切換簡單而快捷?？梢郧逦貙购蠼蛊矫娴母缮鎴D樣。勃氏鏡的視場光闌使其能夠始終獲取銳利而清晰的錐光圖像。

無應力光學元件

UPLFLN-P無應力物鏡得益于奧林巴斯*的設計和制造技術(shù)，將內(nèi)部應力降到了zui低。這就意味著更高的EF值，從而可以得到的圖像反差。

種類豐富的補色器和波長板

提供了六種不同的補色器，用于測量巖石和礦物薄片的雙折射。測量光程差水平范圍從0到20λ。針對更方便的測量和高圖像反差，可以使用B e r e k 和Senarmont補色器，它們能在整個視場內(nèi)改變光程差級別。

各種補償板的延遲測量范圍
補償板	測量范圍	主要用途
U-CTB厚型Berek	0-11,000nm	較大的延遲測量（R*＞3λ）。（結(jié)晶、高分子、纖維、光彈性失真等）
U-CBE Berek	0-1,640nm	延遲測量（結(jié)晶、高分子、纖維、生物體組織等）
U-CSE Senarmont	0-546nm	延遲測量（結(jié)晶、生物體組織等）對比度增強（生物體組織等）
U-CBR1 Brace-Kohler 1/10λ	0-55nm	微小延遲測量（結(jié)晶、生物體組織等）對比度增強（生物體組織等
U-CBR2 Brace-Kohler 1/30λ	0-20nm	微小延遲測量（結(jié)晶、生物體組織等）對比度增強（生物體組織等
U-CWE2 石英楔子	500-2,200nm	延遲的近似測量（結(jié)晶、高分子等）