TriStar II 3020比表面與孔隙度分析儀

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更新時間：2020-01-06 23:06:45瀏覽次數：4757次

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  密度
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  比表面
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麥克默瑞提克（上海）儀器有限公司

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產品簡介

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TriStar II 3020比表面與孔隙度分析儀它在保證數據精度和強大的數據處理能力同時，大大加快了分析速度，可滿足大多數研究需求。

詳細介紹

TriStar II 3020比表面與孔隙度分析儀為全自動三站式比表面積和孔隙度分析儀，性價比高。它在保證數據精度和強大的數據處理能力同時，大大加快了分析速度，可滿足大多數研究需求。TriStar II也同時提供氪氣選配，可進行低比表面測量。該儀器還提供多種分析方法和數據處理，用戶可根據需要選擇不同的計算數據。

TriStar II 3020比表面與孔隙度分析儀特點

三個分析站同時運行，但又相互獨立。三站BET比表面積的測量可以在20分鐘
內完成。對于更多的樣品測試，四個TriStar可用一臺計算機控制。
氮氣測試比表面積zui低可達0.01m2/g。TriStar II也可使用于氬氣、二氧化碳和非腐蝕性氣體如丁烷、甲烷或其他輕烴類。氪氣選配可測量低至0.001m2/g的比表面積。
標配的P0管可連續(xù)測量飽和壓力。飽和壓力可選擇輸入、連續(xù)測量或在樣品管中測量等方式獲得。
zui大進氣增量功能和定進氣量功能，可在縮短分析時間的同時，避免“錯過”重要數據點。
自由空間可選擇測量、計算或手動輸入等方式，靈活性大，滿足不同樣品的不同需求。

增強的產品功能包括：視頻剪輯、計算機和TriStar之間的以太網通信、內置電路測試和診斷的軟件、能夠通過互聯(lián)網進行遠程診斷、可兼容舊型號TriStar及 Gemini的數據。
2.75升，（可選配4L）大容量杜瓦瓶和超長樣品管，保證長時間分析測量。
可測量多達1000個數據點的等溫線，可分析得到足夠多的材料結構信息。
基于Windows的控制軟件，具有強大的數據處理功能、SPC報告、等溫吸附熱等。
可選不同的樣品制備站，流動/真空加熱等多種方式選擇。
設計精美，體積小，使用方便