隨著科學技術(shù)的日益進步和發(fā)展，在國民經(jīng)濟的許多部門，如能源、動力、機械、醫(yī)藥、化工、輕工、冶金、建材等行業(yè)中都出現(xiàn)了越來越多的細微顆粒密切相關(guān)的技術(shù)問題有待解決，顆粒粒徑大小的測量是其中最基本也是最重要的一個方面。許多情況下，顆粒粒徑大小不僅直接影響到產(chǎn)品的性能與質(zhì)量，而且對工藝過程的優(yōu)化、能源消耗的降低、環(huán)境污染的減少等都有重大的關(guān)聯(lián)。近年來，與*、國防工業(yè)、軍事科學等密切相關(guān)的各種新型顆粒材料，特別是超細納米顆粒的問世和利用，給顆粒粒徑的測量提出了新的和更高的要求，不但要求快速、自動化數(shù)據(jù)處理、而且也要求提供可靠的更豐富的數(shù)據(jù)和更有用的信息，以滿足科研領(lǐng)域和工業(yè)質(zhì)量控制方面應用的需要。

DKLT-11激光粒度分析儀正是為了滿足用戶上述新要求而精心研制開發(fā)的一代激光粒度分析儀。該儀器集*激光技術(shù)、半導體技術(shù)、光電技術(shù)、微電子技術(shù)和計算機技術(shù)的應用，綜合了光、機、電、計算機于一體，以光散射理論為基礎(chǔ)的顆粒粒徑測量技術(shù)突出的優(yōu)點逐步取代了一些傳統(tǒng)的常規(guī)測量方法，必將成為一代新穎的顆粒粒徑測量儀器。并且在科研領(lǐng)域和工業(yè)質(zhì)量控制的粒度分布分析中發(fā)揮著越來越大的作用。

激光粒度分析儀廣泛應用到各行業(yè)。例如：材料、化工、制藥、精細陶瓷、建材、石油、電力、冶金、食品、化妝品、高分子、油漆、涂料、碳黑、高嶺土、氧化物、碳酸鹽、金屬粉末、耐火材料、添加劑等以顆粒物作為生產(chǎn)原材料、產(chǎn)品、中間體等。

技術(shù)特點：

1.*的半導體制冷恒溫控制綠色固體激光器做光源，波長短、體積小、工作穩(wěn)定、壽命長；

2.*設(shè)計大直徑光靶，保證測量范圍大，0.1-1000微米全測量范圍內(nèi)不需要更換鏡頭或移動樣品池；

3.集多年研究之成果，米氏理論的應用；

4.*反演算法，保證顆粒測量的準確；

5.USB接口，儀器與計算機一體化

6.測量時循環(huán)樣品池或固定樣品池可選，兩者可根據(jù)需要換用；

7.樣品池模塊化設(shè)計，更換模塊可實現(xiàn)不同的測試模式；循環(huán)樣品池內(nèi)置超聲分散裝置，可有效分散團聚顆粒；干法樣品池新型進樣分散系統(tǒng)、配置空氣抽取系統(tǒng)，實現(xiàn)樣品粉塵均勻流動。

8.樣品測量可*自動化，除添加樣品外，只要連接好蒸餾水進水管和排水管，進水、測量、排水、清洗，啟動超聲分散裝置等操作可*自動進行，同時也提供手動測量菜單；

9.軟件個性化，提供測量向?qū)У缺姸喙δ?，方便用戶操作?/span>

10.測量結(jié)果輸出數(shù)據(jù)豐富，保存在數(shù)據(jù)庫中，能用任意參數(shù)，如操作者姓名，樣品名，日期，時間等進行調(diào)用分析，與其他軟件實現(xiàn)數(shù)據(jù)共享；

11.儀器造型美觀，體積小重量輕；

12.測量精度高，重復性好，測量時間短；

13.軟件提供眾多物質(zhì)折射率供用戶選擇，滿足用戶查找被測顆粒折射率要求；

14.考慮到測試結(jié)果的保密要求，只有操作者才能進入相應數(shù)據(jù)庫讀取數(shù)據(jù)和處理；

15.本儀器符合但并不局限于以下標準：

ISO 13320-2009 G/BT19077.1-2008 粒度分析 激光衍射法

技術(shù)參數(shù)：

1. 測量原理：Mie散射理論

2. 測量范圍：0.1-600um

3. 測量分析時間：正常條件下小于1分鐘（從開始測量到顯示分析結(jié)果）。

4. 重現(xiàn)性：≤1%。

5. 測量精度：≤1%（國家標準顆粒檢驗）。

6. 數(shù)據(jù)輸出：體積、數(shù)量微分分布和累積分布表和圖表；多種統(tǒng)計平均直徑；操作者姓名、單位、樣品名；選用折射率，測量時間等相關(guān)信息。

7. 光源：半導體制冷恒溫控制紅光固體激光光源，波長635nm。

8. 檢測器：32或48通道硅光電二極管。

9. 通訊接口：USB接口。

10. 樣品池：干法樣品池。

11. 電源：AC 180V-240V .50Hz . 20W。

12. 外形尺寸：640*430*290。

工作條件：

l 1.室內(nèi)溫度：15℃-35℃

l 2.相對溫度：不大于85%（無冷凝）

l 3.建議用交流穩(wěn)壓電源1KV，無強磁場干擾。

l 4.由于在微米級的范圍內(nèi)的測量，儀器應放在堅固可靠、無振動的工作臺上，并且在少塵條件下進行測量。

l 5.儀器不應放在太陽直射、風大或溫度變化大的場所。

l 6.設(shè)備必須接地，保證安全和高精度。