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當(dāng)前位置：秋山科技（東莞）有限公司>>物理性能檢測(cè)>>膜厚計(jì)>> F10-RT反射/透射/薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng) 測(cè)厚儀
| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)F10-RT
品 牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷(xiāo)商
所 在 地東莞市
更新時(shí)間：2024-03-20 10:34:19瀏覽次數(shù)：1407次
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陳霞
日本spectra USB簡(jiǎn)易膜厚測(cè)量裝置 測(cè)厚儀
日本skinos便攜式汗液計(jì)SMN-1000 測(cè)厚儀
日本kurabo樹(shù)脂涂層測(cè)厚儀RX-2500
日本kurabo光學(xué)膜測(cè)厚儀RX-1000
日本kurabo復(fù)合薄膜測(cè)厚儀RX-2000/2000L
| 測(cè)量范圍 | 1 | 類(lèi)型 | 數(shù)字式 |
|---|
日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)F10-RT
集成測(cè)量單元和測(cè)量臺(tái)的緊湊型臺(tái)式測(cè)量系統(tǒng)
光譜范圍廣，可選擇多種光源
反射率和透射率同時(shí)測(cè)量，膜厚、折射率和可用分析能力消光系數(shù)
標(biāo)準(zhǔn)維護(hù)時(shí)間記錄的相機(jī)測(cè)量位置
放個(gè)樣品就行了。無(wú)需調(diào)整光學(xué)系統(tǒng)，設(shè)置非常簡(jiǎn)單
日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)F10-RT
| 平板 | 聚酰亞胺、ITO、抗蝕劑、氧化膜、抗反射涂層、PET和玻璃基板上的各種光學(xué)膜 |
|---|---|
| 光學(xué)鍍膜 | 玻璃、眼鏡、鏡片等的硬質(zhì)涂層。 |
| 薄膜太陽(yáng)能電池 | CdTe、CIGS、非晶硅等 |
| 模型 | F10-RT -紫外線 | F10-RT | F10-RT -近紅外 | F10-RT -近紅外 | F10-RT -UVX |
|---|---|---|---|---|---|
測(cè)量波長(zhǎng) 范圍 | 190 – 1100nm | 380 – 1050nm | 950 – 1700nm | 380 – 1050nm | 380 – 1050nm |
膜厚測(cè)量 范圍 | 1nm – 40μm | 15nm – 70μm | 100nm – 150μm | 15nm – 150μm | 1nm – 150μm |
準(zhǔn)確性 | ± 0.2% 薄膜厚度 | ± 0.4% 薄膜厚度 | ± 0.2% 薄膜厚度 | ||
| 1納米 | 2納米 | 3納米 | 2納米 | 1納米 | |
光源 | 氘· 鹵素 | 鹵素 | 氘· 鹵素 | ||
平板中使用的透明電極ITO的膜厚和折射率的測(cè)定例
同時(shí)測(cè)定反射率和透射率。薄膜厚度分析 FIL Measure 軟件可即時(shí)分析薄膜厚度、折射率等。
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