對比維度	YP-150I	YP-250I
光學(xué)性能	30mmφ高密度點光源	60mmφ均勻面光源
適用缺陷類型	微米級劃痕/顆粒（<0.2μm）	亞毫米級紋理/均勻性缺陷
熱管理	被動散熱（環(huán)境溫度敏感）	主動風冷（支持高溫環(huán)境連續(xù)運行）
空間適應(yīng)性	緊湊型設(shè)計（適合狹窄工作臺）	長條形結(jié)構(gòu)（需預(yù)留通風空間）
能效比	低功耗模式（200W）	高性能模式（350W）

2. 技術(shù)特性深度解析

(1) 光學(xué)系統(tǒng)差異

YP-150I
• 采用準直光學(xué)設(shè)計，中心照度梯度達15%/mm，適合檢測芯片焊點裂紋等局部高對比度缺陷
• 在半導(dǎo)體封裝檢測中，可識別20μm以下的金線偏移缺陷
YP-250I
• 配備漫射勻光系統(tǒng)，60mm范圍內(nèi)照度波動<±5%，滿足汽車玻璃光學(xué)畸變檢測的ISO 3538標準
• 對LCD面板的Mura類缺陷檢出率提升40%

(2) 環(huán)境適應(yīng)性對比

環(huán)境條件	YP-150I適應(yīng)性	YP-250I適應(yīng)性
潔凈室（Class 100）	優(yōu)（無氣流擾動）	良（需配置HEPA過濾器）
高溫車間（>35℃）	時使用（<2h）	可持續(xù)運行
振動環(huán)境	優(yōu)（低重心設(shè)計）	需防震支架

3. 應(yīng)用場景匹配指南

優(yōu)先選擇YP-150I的場景

精密電子：0402以下尺寸貼片元件焊膏印刷檢測
光學(xué)元件：AR鍍膜層納米級針孔排查
科研領(lǐng)域：掃描電鏡取樣前的快速預(yù)檢

優(yōu)先選擇YP-250I的場景

平板顯示：G8.5代線OLED蒸鍍均勻性全檢
汽車制造：全景天窗玻璃光學(xué)變形量測量
新能源：光伏硅片整面隱裂快速篩查

4. 選型決策流程圖

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復(fù)制

開始 → 檢測對象尺寸是否＞50mm？ → 是 → 選擇YP-250I
↓否
是否需要亞微米級檢測？ → 是 → 選擇YP-150I
↓否
是否連續(xù)工作＞4h？ → 是 → 選擇YP-250I
↓否
選擇YP-150I

5. 運維成本對比

項目	YP-150I	YP-250I
燈泡壽命	30,000小時（常開模式）	25,000小時（強冷模式）
典型維護周期	每年清潔光學(xué)窗口	每半年更換風機濾網(wǎng)
兼容性	標準三腳架接口	需專用安裝支架

最終建議：
對于實驗室級精密檢測（如MEMS器件開發(fā)），推薦YP-150I搭配移動式調(diào)節(jié)支架；對于工業(yè)級在線檢測（如面板產(chǎn)線），YP-250I集成自動化平臺可提升吞吐量。在振動敏感環(huán)境中，YP-150I的機械穩(wěn)定性更具優(yōu)勢；而在多塵環(huán)境下，YP-250I的封閉式風道設(shè)計能更好保護光學(xué)組件

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目視檢查燈YP-150I與YP-250I如何選型？

1. 核心參數(shù)對比