用于合金的Vanta分析儀：堅固耐用、改進(jìn)創(chuàng)新、高效多產(chǎn)
用于制造業(yè)的質(zhì)量保證/質(zhì)量控制

快速有效地對各種場地進(jìn)行篩檢，探測出重金屬污染物質(zhì)
監(jiān)控污染物質(zhì)和營養(yǎng)物質(zhì)，保證安全合理地使用土地
在遵守環(huán)境管理規(guī)定的過程中節(jié)約了時間、降低了成本

Vanta 分析儀可用于快速、精確地辨別和定量污染金屬元素。這款分析儀可被帶到任何場所進(jìn)行檢測，并在場地定性、房產(chǎn)評估、污染物跟蹤、危險廢料篩查、治理監(jiān)控及合規(guī)檢測等應(yīng)用中快速得到檢測結(jié)果。用于環(huán)境檢測的Vanta 分析儀在樣件準(zhǔn)備方面幾乎沒有要求，是用于篩查大面積場地和分析袋裝土壤、沉積鋅（Zn）等污染元素，以及《資源保護(hù)及恢復(fù)法案》（RCRA）中限制的銀（Ag）、砷（As）、鋇（Ba）、鎘（Cd）、鉻（Cr）、Hg（汞）、鉛（Pb）和硒（Se）元素的理想工具，還可以檢測稀土元素（REE）及放射性元素鈾（U）、釷（Th），檢測含量為PPM 到百分含量級別。

使用手持式XRF分析儀的優(yōu)勢特性

快速覆蓋大面積區(qū)域，從而提高了采樣密度，推進(jìn)了決策的時間進(jìn)程。使勘探人員立即專注于異常情況。增加密度/ 擴(kuò)充采樣可地提高在野外進(jìn)行分析的效率。使用XRF 技術(shù)對樣本進(jìn)行預(yù)篩選，可以為在實驗室進(jìn)行的分析選擇優(yōu)先樣本，從而可更合理地預(yù)算分析經(jīng)費。在現(xiàn)場根據(jù)詳實的信息作出決策，可以優(yōu)化鉆探預(yù)算經(jīng)費的使用。

堅固耐用

符合IP 65/64評級標(biāo)準(zhǔn)，可以抵御灰塵和雨水的侵襲
通過了從4英尺高處墜落的測試（MIL-STD 810G），適合復(fù)雜場地和生產(chǎn)環(huán)境
可以在 -10 °C到50 °C的溫度范圍內(nèi)操作 
為裝有硅漂移探測器的分析儀，提供了金屬自動擋板保護(hù)昂貴的探測器

改進(jìn)創(chuàng)新

采用*的Axon技術(shù)，更高的X 射線計數(shù)率，更快、更精確的檢測結(jié)果，以及更低的檢出限
接近于理論極限的分辨率
無需標(biāo)樣自動能量校準(zhǔn)，分析儀自動進(jìn)行能量校準(zhǔn)，保證了*的測試穩(wěn)定性
四核處理器可使用戶在極短的時間內(nèi)獲得分析結(jié)果

高效多產(chǎn)

簡單直觀的用戶界面（UI）可使用戶快速瀏覽分析儀的設(shè)置和軟件功能
根據(jù)用戶的特定需求，配置用戶界面
用戶可以自行定制顯示在主屏幕上的功能快捷鍵
通過USB閃存驅(qū)動盤、Wi-Fi或藍(lán)牙完成的數(shù)據(jù)導(dǎo)出操作非常簡單

M 系列

我們大的Vanta 分析儀具有非同一般的性能，可以完成要求的應(yīng)用。每臺M 系列分析儀都配備有一個大區(qū)域SDD 硅漂移探測器， 用戶可選擇50KV 的銠（Rh）或鎢（W）陽極靶材的X 射線管。

主要型號有：VMR、VMW。

C 系列

C 系列Vanta 分析儀匯集了以下優(yōu)質(zhì)特性：超高的速度、極低的檢出限（ LOD）和寬泛的可測元素范圍，是一款價值的分析儀。每臺C 系列分析儀都配備有一個高性能SDD 硅漂移探測器，用戶可以選擇40KV 的銠(Rh) 或鎢(W) 陽極靶材的X 射線管，或者50KV 的銀(Ag) 陽極靶材的X 射線管。
主要型號有：VCR、VCW、VCA。

L 系列

L 系列Vanta 分析儀擁有較高X 射線計數(shù)率，超低電子噪聲設(shè)計，使得儀器具有優(yōu)質(zhì)的檢出限（LOD)，*的分析速度和準(zhǔn)確性。每臺L 系列分析儀都配備一個高性能Si-Pin 探測器，和4W 的大功率鎢（W）陽極靶材的X 射線管。
主要型號有：VLW。