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更新時間：2020-05-16 17:22:50瀏覽次數：162
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法蘭一體式電磁流量計
半導體生產流程由晶圓制造，晶圓測試，芯片封裝和封裝后測試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測試環(huán)節(jié)的相關知識經常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測試的相關內容，主要集中在WAT，CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設計、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據，測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機臺上，由WATRecipe自動控制測試位置和內容，測完某條TestKey后，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。
分體式電磁流量計主要用于測量封閉管道中的導電液體和漿液中的體積流量。包括酸、堿、鹽等強腐蝕性的液體。該產品廣泛應用于石油、化工、冶金、紡織、食品、制藥、造紙等行業(yè)以及環(huán)保、市政管理，水利建設等領域。
法蘭一體式電磁流量計
不過正規(guī)測量泄漏電流施加的是交流電壓，因而，在泄漏電流的成分中包含了容性分量的電流。在進行耐壓測試時，為了保護試驗設備和按規(guī)定的技術指標測試，也需要確定一個在不破壞被測設備（絕緣材料）的電場強度下允許流經被測設備（絕緣材料）電流值，這個電流通常也稱為泄漏電流，但這個要領只是在上述特定場使下使用。請注意區(qū)別。泄漏電流實際上就是電氣線路或設備在*和施加電壓的作用下，流經絕緣部分的電流。它是衡量電器絕緣性好壞的重要標志之一，是產品安全性能的主要指標。
電磁流量計按轉換器與傳感器組裝方式分類，有分體式和一體型。
分體型電磁流量計是電磁流量計普遍應用的形式，如下圖所展示的，傳感器接入管道，轉換器裝在儀表室或人們易于接近的傳感器附近，相距數十到數百米。
為防止外界噪聲侵入，信號電纜通常采用雙芯屏蔽線。測量電導率較低液體而相聚超過30m時，為防止電纜部分電容造成信號衰減，內層屏蔽也有要求接上與芯線同電位低阻抗源的屏蔽驅動。分體型電磁流量計的轉換器可遠離現場惡劣環(huán)境，電子部件檢查、調整和參數設定就比較方便。
單芯片集成的趨勢使得手持設備變的小巧而可靠，并具備了多種功能。現在的視頻驅動器的尺寸已經小于1mm3，但仍然能提供高質量、無明顯干擾的視頻輸出信號。除了半導體制造技術的進步之外，小尺寸的芯片和表面貼裝芯片的流行也意味著更多的高科技元件能做成的體積。表面貼裝芯片比過孔式模型有更多的優(yōu)勢，比如能用取放機器進行簡單的自動組裝，在節(jié)省空間的雙面電路板設計方面提供更多的靈活性。采用較少的元件是另一個節(jié)省空間和能量的趨勢，它能使便攜設備在變小的同時延長了電池壽命。
分體式電磁流量計測量原理是基于法拉第電磁感應定律，分體式電磁流量計由傳感器和轉換器組成，傳感器安裝在測量管道上，轉換器被安裝在離傳感器30米內或100米內的場合，兩者間由屏蔽電纜連接。
PM3-高級版Smartcollect高級版PM3，在PM2的基礎上引入SCADA設計理念，動態(tài)展示生產過程、能源流向、將測量數據、開關狀態(tài)、限值控制完美結合，輕松分析現場狀態(tài)，強大的數據比較分析為進一步優(yōu)化控制做好準備。通過使用Smartcollect系統(tǒng)，用戶可以有效監(jiān)測水、電、汽、熱等能耗數據，清晰展示能源流向過程，監(jiān)控電能質量環(huán)境，完成弱點辨識并自動生成報告，進而通過優(yōu)化控制提高企業(yè)用能環(huán)境安全，降低能耗開銷，增強企業(yè)綜合競爭力。
1、測量不受流體密度、粘度、溫度、壓力和電導率變化的影響；
