顯微鏡圖像分析系統(tǒng)，給電子半導(dǎo)體污染度評(píng)估帶來(lái)全新視覺(jué)角度分析——電子半導(dǎo)體圖像法污染物分析系統(tǒng)PLD-MPCS2.0
電子半導(dǎo)體圖像法污染物分析系統(tǒng) 顆粒計(jì)數(shù)，為一種圖像法粒度分布測(cè)試以及顆粒型貌分析等多功能顆粒分析系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括光學(xué)顯微鏡、圖像測(cè)試 CCD 攝像頭、三維立體載物平臺(tái)、圖像法顆粒分析系統(tǒng)軟件、電腦、打印機(jī)等部分組成；為科研、生產(chǎn)領(lǐng)域增添了一種新的粒度測(cè)試手段。
電子半導(dǎo)體圖像法污染物分析系統(tǒng) 顆粒計(jì)數(shù)-優(yōu)勢(shì)：
測(cè)試軟件具有審計(jì)追蹤、權(quán)限管控、電子記錄、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)、計(jì)量驗(yàn)證、報(bào)告模板、圖像存儲(chǔ)、顆粒追蹤、報(bào)告輸出、清潔度分析等功能；
全面自動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)選擇、顆粒尺寸設(shè)定、顆粒計(jì)數(shù)，或按用戶設(shè)定范圍計(jì)數(shù)，自動(dòng)顯示分析結(jié)果，并按照相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)確定產(chǎn)品等級(jí)；
將傳統(tǒng)的顯微測(cè)量方法與現(xiàn)代的圖像處理技術(shù)結(jié)合的產(chǎn)物；
軟件控制分析過(guò)程，手動(dòng)對(duì)焦，手動(dòng)光強(qiáng)（顆粒清潔度測(cè)試必須人為干預(yù)進(jìn)行），自動(dòng)掃描，自動(dòng)攝入，自動(dòng)分析；
數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將顯微鏡的圖像拍攝及掃描；全自動(dòng)膜片掃描系統(tǒng)，無(wú)縫拼接，數(shù)字化顯微鏡分析系統(tǒng)；
R232接口數(shù)據(jù)傳輸方式將顆粒圖像傳輸?shù)椒治鱿到y(tǒng)；
顆粒圖像分析軟件及平臺(tái)對(duì)圖像進(jìn)行處理與分析；
引入3D遙感三維調(diào)控技術(shù)，快速定位，快速聚焦，體驗(yàn)極速無(wú)卡頓測(cè)試。
顯示器及打印機(jī)輸出分析結(jié)果；
直觀、形象、準(zhǔn)確、測(cè)試范圍寬以及自動(dòng)識(shí)別、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、自動(dòng)標(biāo)定等特點(diǎn)；
避免激光法的產(chǎn)品缺陷，擴(kuò)展檢測(cè)范圍；
現(xiàn)實(shí)NAS、ISO等標(biāo)準(zhǔn)方法的認(rèn)可；
提供行業(yè)“OIL17服務(wù)星”簽約式服務(wù)；
產(chǎn)品應(yīng)用：
航天、電力、石油、化工、交通、港口、冶金、機(jī)械、汽車制造、制冷、電子、半導(dǎo)體、工程機(jī)械、液壓系統(tǒng)等領(lǐng)域；
對(duì)各類固體粉末、各類液體中的固體顆粒（非連續(xù)相測(cè)試）。
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：
0.1~3000μm的超寬范圍、超高分辨率。
可根據(jù)客戶要求，植入相應(yīng)“圖像法顆粒度”測(cè)試和評(píng)判標(biāo)準(zhǔn)。
技術(shù)參數(shù)：
產(chǎn)品型號(hào)：PLD-MPCS2.0
訂制要求：各類液體檢測(cè)要求；
測(cè)試范圍: 1μm-500μm
放大倍數(shù)：40X～l000X倍
zui大分辨：0.1μm
顯微鏡誤差：0.02（不包含樣品制備因素造成的誤差）
重復(fù)性誤差：< 5%（不包含樣品制備因素造成的誤差）
數(shù)字?jǐn)z像頭(CCD)：500萬(wàn)~1800萬(wàn)像素
分析項(xiàng)目：粒度分布、長(zhǎng)徑比分布、圓形度分布等
自動(dòng)分割速度：< 1秒
分割成功率：> 93%
軟件運(yùn)行環(huán)境：Windows 10
接口方式：RS232或USB方式
精 確 度：<±3% 典型值；
重合精度：10000粒/mL（5%重合誤差）；
分 辨 率：>95%
售后服務(wù)：普洛帝中國(guó)服務(wù)中心/普研檢測(cè)。
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