X射線熒光光譜儀 RoHS儀器 HeLeeX E8是一款通用型RoHS儀器。儀器所用標(biāo)準(zhǔn)樣品均有第三方檢查機(jī)構(gòu)報(bào)告； HeLeeX E8精密度、準(zhǔn)確度、檢出限等技術(shù)參數(shù)全面超越國(guó)內(nèi)外同類(lèi)RoHS儀器。目前HeLeeX E8系列產(chǎn)品已廣泛應(yīng)用于RoHS檢測(cè)、無(wú)鹵檢測(cè)、鍍層測(cè)厚、合金分析、貴金屬分析、玩具檢測(cè)、皮革檢測(cè)等領(lǐng)域。

詳細(xì)介紹

X射線熒光光譜儀 RoHS儀器 HeLeeX E8

HeLeeX E8是一款通用型RoHS儀器。其核心光路系統(tǒng)集合國(guó)內(nèi)外幾十年RoHS儀器*技術(shù)，核心部件采用美國(guó)進(jìn)口，軟件算法采用XRF前沿技術(shù)，儀器所用標(biāo)準(zhǔn)樣品均有第三方檢查機(jī)構(gòu)報(bào)告； HeLeeX E8精密度、準(zhǔn)確度、檢出限等技術(shù)參數(shù)全面超越國(guó)內(nèi)外同類(lèi)RoHS儀器。目前HeLeeX E8系列產(chǎn)品已廣泛應(yīng)用于RoHS檢測(cè)、無(wú)鹵檢測(cè)、鍍層測(cè)厚、合金分析、貴金屬分析、玩具檢測(cè)、皮革檢測(cè)等領(lǐng)域。

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三、RoHS儀器硬件配置

3.1、探測(cè)器

Ø 類(lèi)型：Si-PIN探測(cè)器（采用原裝風(fēng)進(jìn)口高性能電致冷半導(dǎo)體探測(cè)器）

Ø Be窗厚度：1mil

Ø 晶體面積：25mm2

Ø 分辨率：149eV

Ø 信號(hào)處理系統(tǒng)DP5

3.2、X射線管

Ø 電壓：0~50kV

Ø 大電流：2.0mA

Ø 大功率：50W

Ø 靶材：Mo

Ø Be窗厚度：0.5mm

Ø 使用壽命：大于2萬(wàn)小時(shí)

3.、高壓電源

Ø 輸出電壓：0~50kV

Ø 燈絲電流：0~2mA

Ø 大功率：50W

Ø 紋波系數(shù)：0.1%（p-p值）

Ø 8小時(shí)穩(wěn)定性：0.05%

3.4、攝像頭

Ø 微焦距

Ø 免驅(qū)動(dòng)

Ø 500萬(wàn)像素

3.5、準(zhǔn)直器、濾光片

Ø 快拆卸準(zhǔn)直器、濾光片系統(tǒng)

Ø 多種材質(zhì)準(zhǔn)直器

Ø 光斑大小Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ3.0mm、Φ5.0mm

Ø 多種濾光片、準(zhǔn)直器組合，軟件自動(dòng)切換

3.6、其他配件

進(jìn)口高性能開(kāi)關(guān)電源

進(jìn)口低噪聲、大風(fēng)量風(fēng)扇

四、RoHS儀器軟件配置

Ø 軟件名稱：HeLeeX ED Workstation V3.0。

Ø 應(yīng)對(duì)指令：RoHS檢測(cè)（Pb、Cd、Hg、Cr、Br）、無(wú)鹵檢測(cè)（Br、Cl）。

Ø 開(kāi)放式分析模型。

Ø 多種數(shù)據(jù)算法，根據(jù)不同基體樣品，配備不同算法，提高儀器測(cè)試精準(zhǔn)度。

Ø 數(shù)據(jù)一鍵備份、一鍵還原，增加數(shù)據(jù)安全性。

Ø 操作界面簡(jiǎn)潔，使用方便。

Ø 軟件幫助功能。

產(chǎn)品售出后非人為操作不當(dāng)?shù)脑蚓Ｐ抟荒?/p>

保修期過(guò)后儀器損壞可維修，費(fèi)用按維修實(shí)際情況計(jì)算。

承接維修業(yè)務(wù)：

1、環(huán)境儀器：溫濕度計(jì)（表）、溫度自動(dòng)控制儀、溫度巡回檢測(cè)儀、測(cè)溫電橋、紅外測(cè)溫儀、各類(lèi)空氣干燥箱、鹽霧試驗(yàn)箱、恒溫恒濕箱、恒溫試驗(yàn)箱、高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱等。
2、長(zhǎng)度類(lèi)：指針式（數(shù)顯式）卡尺、各式千分尺、深度尺、高度尺、百分表、杠桿表、測(cè)厚儀、火花試驗(yàn)機(jī)等。
3、力學(xué)類(lèi)：電子稱、電子天平、機(jī)械天平、分析天平、推拉力計(jì)、扭矩扳手、電機(jī)測(cè)功機(jī)、彈簧拉壓試驗(yàn)機(jī)、紙板抗壓試驗(yàn)機(jī)、沖擊試驗(yàn)機(jī)、疲勞試驗(yàn)機(jī)、拉力試驗(yàn)機(jī)、彎曲試驗(yàn)機(jī)、伸長(zhǎng)率試驗(yàn)機(jī)等。
4、光學(xué)類(lèi)：分光光度計(jì)、投影儀、放大鏡、工具顯微鏡、二次元測(cè)量?jī)x、三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x、經(jīng)緯儀、水準(zhǔn)儀、全占儀等。
5、電學(xué)類(lèi)：耐壓測(cè)試儀、示波器、晶體管圖示儀、電參數(shù)測(cè)試儀、線圈測(cè)試儀、匝間測(cè)試儀、電解電容漏電流測(cè)試儀、變壓器測(cè)量?jī)x、lcr數(shù)字電橋、ip測(cè)量?jī)x、接地電阻測(cè)試儀、泄漏電流測(cè)試儀、絕緣電阻測(cè)試儀及各類(lèi)綜合參數(shù)測(cè)試儀、安全性能測(cè)試儀、電阻測(cè)量?jī)x、電位差計(jì)、歐姆表、電橋、高阻計(jì)（兆歐表）、毫歐計(jì)（微歐計(jì)）、電工儀表（電壓表、電流表、功率表等）、電能表、萬(wàn)用表、鉗形表等。