半導(dǎo)體器件老化測試篩選系統(tǒng)
ST-PC_X
*品 牌： 天光測控
*型 號： ST-PC_X
*用 途： 可測試 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等半導(dǎo)體器件的環(huán)境老化狀態(tài)，作評估篩選檢測。
*測 試類 別： HTRB高溫反偏，HTGB高溫柵偏，H3TRB高溫高濕反偏
*029*8730*9001，歡迎垂詢
l產(chǎn)品簡述
ST-PC_X半導(dǎo)體器件老化測試篩選系統(tǒng)是依GB/T29332-2012/IEC60747-9:2007 標(biāo)準(zhǔn)要求對器件測試，將柵極與發(fā)射極短接，在集電極與發(fā)射極間加上設(shè)定的直流電壓，同時(shí)檢測直流電壓與漏電流的值。測試需有傳感器直接檢測 IGBT 模塊殼溫，并可通過軟件輸入模塊結(jié)殼熱阻，結(jié)合產(chǎn)生的耗散功率，當(dāng)溫度與漏電流超過設(shè)定值后，切斷電源，給出警告信號。此設(shè)備是電力電子器件環(huán)境老化測試的重要檢測設(shè)備，用于驗(yàn)證*穩(wěn)定情況下器件的漏電流。系統(tǒng)*大測試電壓5000V（可擴(kuò)展至10KV）。可以實(shí)現(xiàn)對IGBT器件集電極-發(fā)射極電壓Vce、集電極發(fā)射極電流Ices、殼溫Tc 、時(shí)間等各項(xiàng)參數(shù)的檢測，根據(jù)程序設(shè)定自動(dòng)完成測試，記錄保存測試數(shù)據(jù)并且可以瀏覽和導(dǎo)出。
測試夾具采用氣動(dòng)控制單面加熱型。工作時(shí)通過溫控儀和其他控制系統(tǒng)設(shè)定溫度和時(shí)間，具備自動(dòng)檢測溫度、超溫報(bào)警、超壓報(bào)警、過流保護(hù)及安全連鎖、緊停等功能，異常時(shí)切斷主電源。
l 產(chǎn)品特性
1、可以通過計(jì)算機(jī)設(shè)定試驗(yàn)參數(shù)（Vce、Ices、Tc、時(shí)間、采樣周期）和監(jiān)控參數(shù)（Vce、Ice、Tc、T，實(shí)時(shí)采集并記錄試驗(yàn)過程中每個(gè)工位的溫度（Tc）、時(shí)間、電壓、漏電流等，并可隨時(shí)瀏覽數(shù)據(jù)。
2、 當(dāng)被測器件失效時(shí)（Ices超限），系統(tǒng)能自動(dòng)檢測、報(bào)警，并可及時(shí)切斷高壓電源（不需要中斷加熱），停止試驗(yàn)，該失效點(diǎn)的詳細(xì)數(shù)據(jù)會(huì)被記錄下來，并記錄失效時(shí)間節(jié)點(diǎn)。
3、 試驗(yàn)數(shù)據(jù)保存可以設(shè)定保存的時(shí)間間隔，設(shè)定時(shí)間范圍為：10s-600s，但當(dāng)器件檢測失效時(shí)，可以自動(dòng)保存失效前至少一個(gè)采樣時(shí)間周期的詳細(xì)數(shù)據(jù)，有助于對器件失效進(jìn)行分析。
4、該系統(tǒng)采用計(jì)算機(jī)記錄測試結(jié)果，并可以將測試結(jié)果轉(zhuǎn)換為“EXCEL"并保存。
5、安全防護(hù)1：該設(shè)備具有超溫保護(hù)、安全聯(lián)鎖等。
6、安全防護(hù)2：配備獨(dú)立于溫控系統(tǒng)的干觸點(diǎn)超溫保護(hù)裝置，在電路的發(fā)熱位置配溫度傳感器，一旦有異常超溫現(xiàn)象，發(fā)出警報(bào)并自動(dòng)切斷設(shè)備電源。
7、安全防護(hù)3：設(shè)備操作門配有安全連鎖開關(guān)，操作面板配置急停開關(guān)，保證測試及設(shè)備維護(hù)時(shí)人員安全。
天光測控2023.09.13/張
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