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江蘇巨立儀器有限公司
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產(chǎn)品型號(hào)XDS IOPA
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更新時(shí)間:2022-05-10 10:13:13瀏覽次數(shù):335次
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儀器簡(jiǎn)介 XDS IOPA 近紅外光譜分析儀是為取代常規(guī)試驗(yàn)、縮短產(chǎn)品滯留時(shí)間,極小化實(shí)驗(yàn)室分析時(shí)間而設(shè)計(jì)的。XDS IOPA 近紅外光譜分析儀可用于實(shí)驗(yàn)室反應(yīng)監(jiān)測(cè),并作為中試過(guò)程應(yīng)用的補(bǔ)充方案。XDS IOPA 近紅外光譜分析儀配有兩種探頭:反射探頭和浸入探頭。反射探頭適用于掃描固體、高度分散的液體和漿液。浸入探頭分析水狀產(chǎn)品、透明液體和溶劑。XDS IOP 分析儀的光纖式設(shè)計(jì)允許其在苛刻危險(xiǎn)的......
儀器特性及優(yōu)勢(shì)
? XDS NIR 技術(shù)確保使用簡(jiǎn)單和定標(biāo)的無(wú)縫轉(zhuǎn)移
? 快速斷開(kāi)式探頭,優(yōu)化了固體和液體的測(cè)量
? 無(wú)需樣品制備,無(wú)需試劑,無(wú)任何廢棄物
? 面向集中數(shù)據(jù)庫(kù)管理的網(wǎng)絡(luò)分析儀
? 熱插拔模塊 — 幾分鐘內(nèi)即可完成更換,不會(huì)影響性能
儀器簡(jiǎn)介
XDS IOPA 近紅外光譜分析儀是為取代常規(guī)試驗(yàn)、縮短產(chǎn)品滯留時(shí)間,極小化實(shí)驗(yàn)室分析時(shí)間而設(shè)計(jì)的。XDS IOPA 近紅外光譜分析儀可用于實(shí)驗(yàn)室反應(yīng)監(jiān)測(cè),并作為中試過(guò)程應(yīng)用的補(bǔ)充方案。XDS IOPA 近紅外光譜分析儀配有兩種探頭:反射探頭和浸入探頭。反射探頭適用于掃描固體、高度分散的液體和漿液。浸入探頭分析水狀產(chǎn)品、透明液體和溶劑。XDS IOP 分析儀的光纖式設(shè)計(jì)允許其在苛刻危險(xiǎn)的取樣環(huán)境中直接使用。
XDS NIR 技術(shù)不僅帶來(lái)了*的分析性能,同時(shí)加快了了定標(biāo)方法的研發(fā),縮短了實(shí)施時(shí)間,保證了定標(biāo)的無(wú)縫轉(zhuǎn)移。使用*、界面友好、具有聯(lián)網(wǎng)能力的 Vision®軟件可以輕松實(shí)現(xiàn)鑒定、定性和定量等方法。按下一個(gè)按鍵或單擊鼠標(biāo)就能完成準(zhǔn)確的分析。
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主營(yíng)產(chǎn)品:紫外可見(jiàn)光光度計(jì)、水分儀、電子密度計(jì)、拉力試驗(yàn)機(jī)、環(huán)境試驗(yàn)箱、硬度計(jì)、分析天平、馬弗爐、熔體流動(dòng)速率測(cè)試儀
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