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雙通道紫外輻照計照度計采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計，探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。
雙通道紫外輻照計照度計采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計，探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。
紫外輻照計照度計特點
光譜及角度特性經(jīng)嚴格校正
數(shù)字液晶顯示，帶背光
手動/自動量程切換
數(shù)字輸出接口（USB,冗余供電）
低電量提醒
自動延時關(guān)機
有數(shù)字保持
輕觸按鍵操作，蜂鳴提示
| 項目 | 參數(shù) | 備注 |
| 波長范圍λ1，峰值波長λp | （230～275）nm，λP＝254nm | 用戶二選一 |
| 波長范圍λ2，峰值波長λp | （275～330）nm，λP＝297nm | |
| 輻照度測量范圍 | (0.1～199.9×103) μW/cm2 | |
| 紫外帶外區(qū)雜光 | UV254<0.1%，UV297<0.05% | |
| 相對示值誤差 | ±8％（相對于NIM標準） | |
| 角度響應特性 | ±5% （α≤10°） | |
| 線性誤差 | ±1% | |
| 換檔誤差 | ±1% | |
| 短期不穩(wěn)定性 | ±1%（開機30min后） | |
| 疲勞特性 | 衰減量<2% | |
| 零值誤差 | 滿量程的±1% | |
| 響應時間 | <1秒 | |
| 使用環(huán)境 | 溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH | |
| 尺寸和重量 | 160mm×78mm×43mm；0.2kg | |
| 電源 | 6F22型9V積層電池（非充電電池） | |
| 整機功耗 | ＜0.1VA |
| 序號 | 配件名稱 | 件數(shù) | 備注 |
| 1 | 讀數(shù)顯示單元 | 1 | |
| 2 | 探頭 | 1 | |
| 3 | 探頭蓋 | 1 | |
| 4 | 數(shù)據(jù)線 | 1 | |
| 5 | 說明書 | 1 | |
| 6 | 合格證/保修單 | 1 | |
| 7 | 9V積層電池 | 1 | |
| 8 | 儀器包裝箱 | 1 |
