LXHY6-70玻璃絕緣子
LXHY6-70玻璃絕緣子
銷售SAL：王軍輝
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玻璃絕緣子在生產和運行的頭幾年，就發(fā)現(xiàn)它比瓷絕緣子有如下一系列優(yōu)點：
由于玻璃絕緣子表層的機械強度高，使表面不易發(fā)生裂縫。玻璃的電氣強度一般在整個運行期間保持不變，并且其老化過程比瓷要緩慢得多，因此玻璃絕緣子主要由于自損壞而報廢，在運行*年內發(fā)生，可是瓷絕緣子的缺陷只有在運行幾年以后才開始發(fā)現(xiàn)。
采用玻璃絕緣子，可以取消在運行過程中絕緣子進行的帶電定期預防性試驗。這是因為鋼化玻璃的每種損壞都會造成絕緣子的破壞，運行人員在巡線時很容易發(fā)現(xiàn)它。當絕緣子損壞時，鋼帽和鐵腳附近的玻璃碎片被卡住，絕緣子剩余部分的機械強度足以防止絕緣子串斷脫。
用來制造玻璃絕緣子的原料，就其本身成份來說，比制造電瓷用的原料更為穩(wěn)定，為穩(wěn)定玻璃的電氣特性和機械特性創(chuàng)造了良好的條件。
由于玻璃的透明性，在外形檢驗時容易發(fā)現(xiàn)細小裂縫以及各種內部缺陷和損傷。
鋼化玻璃的機電性能比瓷的高得多，制造同等類型的絕緣子，而其尺寸和重量比瓷絕緣子要小得多。
絕緣子子絕緣電阻測量
1)絕緣電阻測量是對瓷絕緣子、鋼化玻璃絕緣子、復合絕緣子的絕緣電阻的測量。測量的目的是檢查絕緣子的絕緣狀況，發(fā)現(xiàn)絕緣子的絕緣劣化和絕緣擊穿等缺陷。
(2)35～220kV架空送電線路的絕緣子絕緣電阻測量*使用5000V兆歐表進行測量。
1.絕緣電阻合格的標準
(1)新裝絕緣子的絕緣電阻應大于或等于500MΩ。
(2)運行中絕緣子的絕緣電阻應大于或等于300MΩ。
2.絕緣子劣化判定原則
(1)絕緣子絕緣電阻小于300MΩ，而大于240MΩ可判定為低值絕緣子。
(2)絕緣子絕緣電阻小于240MΩ可判定為零值絕緣子。
復合絕緣一般不采用本方法測試絕緣電阻。
3.導致盤型懸式絕緣子劣化的原因
(1)溫度的影響，溫度對絕緣電阻影響很大，絕緣電阻隨溫度上升而減小。原因是溫度升高，絕緣介質的極化加劇，電導增加使絕緣電阻下降，變化的原因與溫度變化程度和絕緣材料的性質、結構等有關。
(2)濕度的影響，濕度對表面泄漏電流的影響較大，原因是絕緣表面吸附潮氣，形成水膜，會使絕緣電阻明顯下降。
(3)絕緣子機械過載造成的劣化。
(4)瓷件吸濕性劣化。
(5)瓷件內外應力重疊性劣化。
(6)瓷絕緣子熱膨脹造成的劣化。
(7)鋼帽澆裝水泥飽和膨脹性劣化。
(8)鋼帽澆裝水泥凍結膨脹性劣化。
(9)鋼帽、鋼腳電腐蝕性劣化。
(10)絕緣子過電壓造成的劣化。
(11)絕緣子內部缺陷造成的劣化。
測量絕緣子電阻的注意：濕度較大時應暫停測量。
4.測量方法
對于單元件的絕緣子，只能在停電的情況下測量其絕緣電阻，相關規(guī)程中規(guī)定，采用2500V及以上的兆歐表。目前使用較多的是2500V和5000V兆歐表，也有電壓更高的專門儀器。但實際上，在1*104MΩ以內，精度相同的2500V和5000V兆歐表，在相同的濕度下測量的絕緣電阻基本相同。在所測絕緣電阻大于1*104MΩ時，2500V兆歐表無法讀出準確的絕緣電阻值，只能按∞記數(shù)。而5000兆歐表則可取的zui大絕緣電阻可達2*105MΩ。
對于多元件組合的絕緣子，可停電、也可帶電測量其絕緣電阻。其方法是用高電阻接至帶電的絕緣子上，使測量絕緣電阻的兆歐表處于地電位，從測得的絕緣電阻中減去高電阻的電阻值，即為被測絕緣子的絕緣電阻值。帶電測量絕緣子絕緣電阻的原理接線如圖4—1所示。圖4—1中，R為高電阻桿中的電阻，阻值按10～20kΩ/V、長度按0.5～105kV/cm選擇，每單位電阻容量為l～2W;C為接地電容，可使兆歐表處于地電位，C的絕緣電阻應達到兆歐表的zui大量限，以保證測量的準確度。C的電容量為0.01～0.05μF，應能承受3000V以上的直流電壓。5.判斷
(1)針式支柱絕緣子的每一元件和每片懸式絕緣子的電阻不應低于300MΩ。
(2) 500kV懸式絕緣子的絕緣電阻不低于500MΩ。
值得注意的是，測量多元件支柱絕緣子每一元件的絕緣電阻時，應在分層膠合處繞銅線，然后接到兆歐表上，以免在不同位置測得的絕緣電阻數(shù)值相差太大，而造成誤判斷。
絕緣子絕緣電阻的測量
玻璃絕緣子的內部結構
長約幾百個核苷酸對，是通常位于啟動子同正調控元件(增強子)或負調控因子(為異染色質)之間的一種調控序列。絕緣子本身對基因的表達既沒有正效應，也沒有負效應，其作用只是不讓其他調控元件對基因的活化效應或失活效應發(fā)生作用。
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