S1000 放大倍率標(biāo)準樣品光學(xué)儀器> >  特點：

1、擁有最現(xiàn)代的加工工藝，研制技術(shù)本身具有足夠的精度等保證其質(zhì)量

2、底層鍍有純鈦層，表面有120nm厚的Au膜，可稱之為擁有特厚金層，不僅可長

期穩(wěn)定保存，而且具有極其良好的導(dǎo)電性

3、具有格柵狀雙向結(jié)構(gòu)，與早期使用的初級銅網(wǎng)結(jié)構(gòu)相似，   是國內(nèi)外僅有的可以同時對任意兩個垂直方向上的掃描電鏡、電子探針的圖像的放大倍率進行檢查或校正的標(biāo)樣

4、有德國PTB國際的計量型原子力顯微鏡的測量研究報告和研制者的研制報告正式發(fā)布(見“掃描電鏡測長問題的討論"一書)，即采用目前精度很好、可溯源的檢測方法，有可靠的文獻依據(jù)

5、S1000曾經(jīng)過我國國家計量研究院的多次檢驗測試，并多次獲得合格證書；

6、S1000早在2005年通過全國微束標(biāo)委會的有關(guān)專家評審?fù)ㄟ^，具備報批國家標(biāo)準樣品的資格，并且已經(jīng)過眾多用戶近十年的使用，證明其質(zhì)量優(yōu)良

7、公開出版的“掃描電鏡測長問題的討論"專著實際上是一本S1000的綜合性的研制報告；這也是這類標(biāo)樣中的僅有；

8、價格低廉，易于保存、易于普及到每個掃描電鏡和電子探針實驗室

9、功能多，用途多

(1)可用于同時對任意兩個垂直方向上的掃描電鏡的圖像的放大倍率進行檢查或校正，是校準從10×~100.000×及以上范圍的圖像放大倍率的很有效的圖形標(biāo)準樣品：是執(zhí)行GB/T27788“微束分析一掃描電鏡一圖像放大倍率校準導(dǎo)則"一個精準的校準標(biāo)樣

(2)可直接用于同一量級物體，毫米量級到納米量級長度的精確比對測量，是執(zhí)行GB/T16594和GB/T20307微米和納米測量的一個不能缺少的精準的度量工具

(3)可用于對圖像的X、Y方向上的畸變和邊緣的畸變進行校驗，是評價掃描電鏡圖像質(zhì)量的一個重要工具

(4)對樣品臺傾斜角和電子傾斜以及旋轉(zhuǎn)調(diào)整功能的檢驗也有較好的作用

(5)利用標(biāo)樣上的“點子"圖像，可對電子束作漂移檢驗和樣品臺復(fù)位檢驗

S1000 放大倍率標(biāo)準樣品光學(xué)儀器用途：

(1)可用于同時對任意兩個垂直方向上的掃描電鏡的圖像的放大倍率進行檢查或校正，是校準從10×~100,000×范圍的圖像放大倍率的很有效的圖形標(biāo)準樣品

(2)可用于對圖像的X、Y方向上的畸變和邊緣的畸變進行校驗，是評價掃描電鏡圖像質(zhì)量的個重要工具

(3)可直接用于同一量級物體長度的精確比對測量

(4)對樣品臺傾斜角和電子傾斜以及旋轉(zhuǎn)調(diào)整功能的檢驗也有較好的作用

(5)利用標(biāo)樣上的“點子"圖像，可對電子束作漂移檢驗和樣品臺復(fù)位檢驗

標(biāo)準樣品的形狀、規(guī)格和包裝：
S1000微米一亞微米級系列標(biāo)樣，總體為5mm×5mm0.5mm(長×寬×厚)大小的小方塊。主體圖形為一個“回"字形的方框，最外框邊長約為2mm,內(nèi)框的邊長約為12mm,內(nèi)框里面用X、Y軸分為4個象限，X、Y軸上制作有垂直坐標(biāo)軸方向的線距20um的短平行線條，4個象限上分別是線距為40um、20um10um的方格網(wǎng)狀圖形和線距為5um的X、Y雙向平行線條圖形，內(nèi)框的中部又是“回"字形的方框，大框的邊長約為160m,小框邊長約50um,大框和小框之間在X方向和Y方向上都有線距為5um的平行線條，小框里面是線距為1um或05um的X、Y雙向平行線條圖形(見圖1)，在5m和1um或05um的線距結(jié)構(gòu)上還有一些十字形和圓點，可用于在較大放大倍率下圖像的聚集和像散調(diào)整，不同的線距大小可用于從10×~10000放大倍率范圍的校準，而把40um、20μm和10um的線距結(jié)構(gòu)設(shè)計成方格形，是為了在對放大倍率進行準確校準的同時，可以對圖像的畸變、像散等進行校驗，5μm的線距結(jié)構(gòu)也同時具有X、Y兩個方向的平行線條，是為了方便同時對X、Y兩個方向進行放大倍的準而不必機械旋轉(zhuǎn)標(biāo)準器。
標(biāo)準樣品的穩(wěn)定性：

標(biāo)準樣品基質(zhì)材料為單晶硅或石英玻璃基片，材料性質(zhì)穩(wěn)定。在對標(biāo)準樣品進行觀察時，可看到標(biāo)準樣品具有良好的導(dǎo)電性，并且在掃描電鏡下所產(chǎn)生的圖形具有很好的對比度，在掃描電鏡下或光學(xué)顯微鏡下進行多次長時間的觀察后，未見標(biāo)準樣品圖形或線距結(jié)構(gòu)發(fā)生變形或其他損壞，即標(biāo)準樣品在電子束重復(fù)照射下是穩(wěn)定的。