華科智源-IOL間歇壽命測試系統(tǒng)，測試各種封裝的MOSFET、IGBT、三極管、Diode（小電流器件）進行連續(xù)工作壽命和間歇工作壽命試驗。間歇工作壽命試驗利用芯片的反復(fù)開啟和關(guān)閉引起的反復(fù)高溫和低溫，加速芯片內(nèi)各種組件材料和結(jié)合面的熱機械應(yīng)力，驗證封裝、內(nèi)部鍵合等承受由芯片操作引起的熱機械應(yīng)力能力。

詳細介紹

★主要技術(shù)規(guī)格和性能:
產(chǎn)品型號	HK-IOL-16H
產(chǎn)品名稱	間歇壽命試驗系統(tǒng)
符合標準	試驗線路及試驗方法滿足MIL-STD-750、GJB128及AEC-Q101相關(guān)標準要求適用于各種封裝形式的二極管、三極管、MOSFET、IGBT等器件的間歇壽命試驗和穩(wěn)態(tài)壽命試驗。
試驗通道	16個（一板一區(qū)）
試驗容量	40×16=640位
基本功能	①每個通道提供一組獨立程控電源。
	②對于三極管、MOSFET器件試驗，可提供部分工位Tj檢測或全部工位Tj檢測。二極管試驗提供全部工位Tj檢測。
	③對于二極管，每工位試驗電流范圍為0～15A，并聯(lián)后可提供60A試驗電流。MOSFET及IGBT器件試驗每工位18W試驗功率。只需減少試驗工位，就可增加器件的試驗功率。
	④可使用外部電源。如配置TDK、安捷倫等品牌電源。
計算機	工業(yè)級電腦主機、液晶顯示器、專用鍵盤及鼠標。WINDOWS操作界面，友好的人機對話窗口，強大的圖形編輯能力以及強大的器件庫供用戶選擇，軟件操作簡單易學。更有系統(tǒng)查詢診斷功能，試驗狀況一目了然，方便用戶隨時查驗。
老化板	老化板采用子母板的方式，只需更換子板即可試驗不同封裝的器件。
電網(wǎng)要求	單相AC220V±10%，47Hz~63Hz，6KW
外形尺寸	W1620mmхH1820mmхD1320mm
重量	約600kg