三箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱?是一種高低溫試驗(yàn)設(shè)備，由三個(gè)部分組成：高溫試驗(yàn)箱、低溫試驗(yàn)箱和樣品轉(zhuǎn)移箱。它能夠模擬真實(shí)環(huán)境下的溫度變化和熱沖擊，對(duì)被測試物品的性能和可靠性進(jìn)行測試評(píng)估。該設(shè)備廣泛應(yīng)用于航空、航天、相關(guān)、電子等領(lǐng)域，用于測試整機(jī)及零部件在高溫或低溫環(huán)境下的性能?

技術(shù)參數(shù)：

標(biāo)準(zhǔn)沖擊箱內(nèi)箱尺寸大小可選擇:

容積27升對(duì)應(yīng)的:寬30x高30x深30cm;

容積50升對(duì)應(yīng)的:寬36x高35x深40cm;

容積80升對(duì)應(yīng)的:寬50x高40x深40cm；

容積100升對(duì)應(yīng)的:寬60x高40x深40cm；

容積150升對(duì)應(yīng)的:寬60x高50x深50cm；

容積250升對(duì)應(yīng)的:寬70x高60x深60cm；

標(biāo)準(zhǔn)溫度范圍可選擇：A:-40℃~150℃；B:-55℃~150℃；C:-65℃~150℃；

高溫發(fā)熱區(qū)高溫度：+60℃~+200℃

低溫制冷區(qū)低溫度：-10℃~-75℃;

升溫時(shí)間(高溫發(fā)熱區(qū)) ：RT~200℃約需35min

降溫時(shí)間(低溫制冷區(qū)) ：RT~-70℃約需85min

溫度恢復(fù)時(shí)間/轉(zhuǎn)換時(shí)間： ≤5min內(nèi) / ≤10sec內(nèi)

溫度控制精度/分布精度： ±0.5℃ / ±2.0℃

工作原理如下：

?高溫區(qū)?通過PID邏輯電路控制固態(tài)繼電器的導(dǎo)通或關(guān)斷時(shí)間比例，調(diào)節(jié)加熱器輸出功率大小，從而實(shí)現(xiàn)自動(dòng)控溫。

?低溫區(qū)?通過篩檢程式和膨脹閥節(jié)流，使高溫氣體重新進(jìn)入運(yùn)作室蒸發(fā)器中吸熱并氣化，再被壓縮機(jī)吸入壓縮，反復(fù)運(yùn)作后使運(yùn)作室溫度降至要求。

?產(chǎn)品測試區(qū)?由儀器自動(dòng)控制高低溫氣閥，在低溫或高溫之間切換，分別與高溫箱或低溫箱形成閉路空氣循環(huán)系統(tǒng)，迅速達(dá)到試驗(yàn)的目標(biāo)溫度?

三箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱在多個(gè)領(lǐng)域有廣泛應(yīng)用：

?航空、航天、相關(guān)?：用于測試飛機(jī)發(fā)動(dòng)機(jī)、航空電子設(shè)備等裝備的性能和可靠性。

?電子領(lǐng)域?：用于測試電子元器件、集成電路等在高低溫溫度下的性能和穩(wěn)定性。

?其他領(lǐng)域?：還適用于金屬、塑料、橡膠等材料的測試，檢測材料在高溫和低溫環(huán)境下的化學(xué)變化或物理傷害?