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LP Silicon-PYRA 04日射強度計通過一個硅光電二極管（400nm-1100nm）測量太陽總輻射。

特殊的幾何構(gòu)造和散光器根據(jù)余弦定律可以測量180度范圍內(nèi)的總輻射場。

該日射強度計可以測量自然界的陽光。陰天時，使用熱電堆日射強度計（LP PYRA 03 或 LP PYRA 02）測量反射光。

LP Silicon-PYRA 04日射強度計可以測量可再生能源的太陽輻射，如太陽能光熱和太陽能光伏。

LP Silicion-PYRA 04日射強度計的光譜響應(yīng)沒有覆蓋所有的太陽光譜，也不是恒定的。

只有LP Silicion-PYRA 04日射強度計經(jīng)過光校準，且校準光的光譜和所測光譜是*的之后，才能精確測量。

在天氣晴朗的條件下，該日射強度計測量的輻射值不確定性小于3%。

陰天、日出或日落時，太陽光譜和儀器校準的光譜大不一樣，因此測量誤差會增加。

技術(shù)參數(shù)：

典型靈敏性：20μV/(W/m2)

測量范圍：0-2000W/m2

光譜范圍：350nm-1100nm

響應(yīng)時間：0.5秒

非線性：1%

溫度漂移：<±0.15%/ °C

校準的不確定性：<3%

根據(jù)余弦定律響應(yīng)：±3%（在0°…75°范圍內(nèi)）

工作溫度：-40°C + 65°C

阻抗輸出：25 Ω