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賽默飛世爾科技（中國）有限公司集團
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閱讀：72發(fā)布時間：2023-5-8
2019年3月21日，上海——科學服務領域的世界賽默飛世爾科技（以下簡稱：賽默飛）亮相于上海舉辦的SEMICON CHINA 2019展會，現(xiàn)場發(fā)布展示了其一代的產(chǎn)品及半導體綜合解決方案，新品致力于提高工廠及分析性實驗室效率，進一步助力中國半導體事業(yè)的發(fā)展。
賽默飛亮相SEMICON CHINA 2019展會現(xiàn)場
自2014年6月《國家集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展推進綱要》正式發(fā)布，中國的半導體行業(yè)拉開了高速發(fā)展的序幕。近年來，應用可編程芯片(FPGA)、人工智能云端以及邊緣運算端芯片等一系列前沿技術的半導體新產(chǎn)品開發(fā)正如火如荼地進行——半導體產(chǎn)業(yè)的技術節(jié)點也在不斷提高，實現(xiàn)更*的制程工藝、更高的良率、更大的產(chǎn)能成為半導體行業(yè)迫切需要面對和解決的問題。賽默飛中國區(qū)總裁艾禮德（Tony Acciarito）表示：“新興技術市場趨勢以及政策支持正為中國半導體和電子科技產(chǎn)業(yè)帶來了的機遇，秉持‘扎根中國、服務中國’的發(fā)展戰(zhàn)略，我們期待利用自身在半導體行業(yè)的豐富經(jīng)驗及優(yōu)勢，攜手本土合作伙伴，共同推動中國半導產(chǎn)業(yè)的發(fā)展和創(chuàng)新。”
在此次SEMICON CHINA 2019上，賽默飛從多個維度綜合展現(xiàn)了其在實驗室方案、失效分析、環(huán)境分析以及生產(chǎn)支持方面的綜合能力以及一體化解決方案。其中以Thermo Scientific™ Helios 5為代表的一眾新品，也通過SEMICON CHINA 2019這個的平臺次在中國與業(yè)界的朋友們見面。
Thermo Scientific™ Helios 5
賽默飛推出一代Thermo Scientific™ Helios 5，這款全新的*的小型聚焦離子束掃描電子顯微鏡將用于納米材料的表征和分析。Helios 5產(chǎn)品系列的發(fā)布解決了目前越來越多的半導體技術挑戰(zhàn)，包括更小的幾何形狀，3D結(jié)構(gòu)，新材料和大量的分析樣品以提高產(chǎn)量和根本原因分析。隨著半導體產(chǎn)業(yè)從7nm技術節(jié)點轉(zhuǎn)向5nm技術節(jié)點，Helios 5 TEM和Atom Probe樣品制備軟件提高對的原子級的結(jié)構(gòu)和成分信息的獲得能力。它可以在納米尺度上實現(xiàn)質(zhì)量的表面和3D信息，并且可以確地定位感興趣的區(qū)域。
賽默飛一代Thermo Scientific™ Helios 5
Thermo Scientific™ ELITE™ 系統(tǒng)
近幾年來，半導體工業(yè)已經(jīng)普遍接受使用ELITE (Enhanced Lock In Thermal Emission) 實現(xiàn)電性失效分析定位的工作。ELITE具有的靈敏度，可以幫助傳統(tǒng)EMMI / OBIRCH 檢測的不足。ELITE 還可以作為非破壞性檢測，對于封裝后的元件，分析失效點深度的位置。除了*制程和封裝的需求，針對功率元件在車用電子的應用，ELITE還支持高電壓的測試。
工程師現(xiàn)場講解及演示Thermo Scientific™ ELITE™ 系統(tǒng)
Thermo Scientific™ Nicolet™ iG50 FT-IR 光譜儀
賽默飛Nicolet旗下 iS50/iG50 系列硅片分析系統(tǒng)為硅片的研究或者大規(guī)模制造的質(zhì)量控制提供了靈活強大的解決方案。 Nicolet iS50/iG50 系列硅片分析系統(tǒng)主要可以應用于氧、碳含量分析以及外延層 （EPI） 厚度測量。除此之外，iS50/iG50還可以應用于鈍化層分析，例如：PSG、BSG、PBSG 中 PB 含量、Si中H的含量測定以及FSG。
Thermo Scientific™ Nicolet™ iG50
Thermo Scientific™ Nicolet™ iN10 光譜儀
賽默飛Nicolet旗下 iN10是一種直觀、創(chuàng)新、集成的一體化傅里葉變換顯微紅外光譜儀，具有安裝簡便、、光譜質(zhì)量高的特點。Nicolet iN10 顯微紅外光譜儀在半導體微電子領域主要應用于：固化膠的固化率測定、電子材料的分析與表征、顯示材料的剖析與表征以及異物分析。
Thermo Scientific™ Nicolet™ iN10
Thermo Scientific™ iCAP™ TQs ICP-MS
支持三重四極桿技術的 Thermo Scientific™ iCAP™ TQs ICP-MS 是一種高性能 ICP-MS，適用于在與半導體行業(yè)相關的多種挑戰(zhàn)性基質(zhì)中進行痕量元素超痕量定量檢測。在不犧牲其作為靈敏、易用的工作臺儀器所具備的檢測能力的前提下，具有三重四極桿技術出色的干擾去除能力，可更好地對各種挑戰(zhàn)性的基質(zhì)中的元素雜質(zhì)進行檢測。由于 iCAP TQs ICP-MS 占地面積小，加上具有簡化的工作流程并支持自動化方法開發(fā)而特別易于使用，使其成為用于確保關鍵生產(chǎn)工藝一致性和提高半導體硅片加工產(chǎn)量而進行在線質(zhì)量控制的理想檢查工具。
Thermo Scientific™ iCAP™ TQs ICP-MS
Thermo Scientific™ NESLAB ThermoFlex 系列
性能可靠的多用途制熱/冷卻恒溫循環(huán)器，可為需要的小型實驗室到大型工業(yè)過程，提供制熱/冷卻恒溫循環(huán)的關鍵應用，可達24000瓦的制熱/冷卻恒溫循環(huán)能力。本產(chǎn)品提供創(chuàng)新平臺，可配置的設計，易于操作，以及的性能。
Thermo Scientific™ NESLAB ThermoFlex
Thermo Scientific™ Phenom™ ProX
Thermo Fisher Scientific 飛納臺式掃描電鏡是半導體行業(yè)中高效的檢測分析儀器。主要用于工業(yè)質(zhì)量控制、缺陷分析和產(chǎn)品研發(fā)?？梢赃x配 飛納自動傾斜旋轉(zhuǎn)樣品杯或 U 中心樣品杯觀察半導體樣品。通過傾斜旋轉(zhuǎn)樣品，能夠展現(xiàn)的3D圖像，分析樣品上的隱藏特征，幫助用戶把控產(chǎn)品質(zhì)量。
Thermo Scientific™ Phenom™ ProX
展會現(xiàn)場，賽默飛展示了ELITE的實體機器并進行了DEMO演示，吸引了大批專業(yè)及相關人士的駐足了解問詢。數(shù)量眾多的同行以及訪客在展臺現(xiàn)場聆聽了現(xiàn)場工程師講解賽默飛在半導體行業(yè)的綜合解決方案，并共同分享探討了半導體行業(yè)內(nèi)的前沿技術與市場動態(tài)。
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