儀器包括高穩(wěn)定性X射線發(fā)生器、高精密測(cè)角儀、封閉正比探測(cè)器（或SDD探測(cè)器、或一維高速半導(dǎo)體陣列探測(cè)器）、數(shù)據(jù)處理軟件、相關(guān)應(yīng)用軟件等。

儀器特點(diǎn)
長(zhǎng)壽命X射線管：金屬陶瓷X射線管，具有散熱好、運(yùn)行功率高（40kV×40mA）、使用壽命長(zhǎng)特點(diǎn)
高精密測(cè)角儀：衍射角驅(qū)動(dòng)采用伺服電機(jī)驅(qū)動(dòng)+光學(xué)編碼控制技術(shù)，具有定位準(zhǔn)確、測(cè)量精度高
測(cè)角儀內(nèi)藏式設(shè)計(jì)，使儀器表現(xiàn)更整潔、美觀、大方，在衍射角度測(cè)量范圍內(nèi)，衍射角度線性度小于0.02°
拓寬衍射儀應(yīng)用領(lǐng)域的附件齊全：高溫、低溫、多功能等衍射儀各種附件安裝實(shí)現(xiàn)“即插即用",軟件自動(dòng)識(shí)別控制技術(shù)，方便操作人員對(duì)儀器的使用
射線防護(hù)安全可靠：X射線散射線防護(hù)裝置更安全可靠，樣品測(cè)量時(shí)射線防護(hù)門自動(dòng)禁止打開，雙重防護(hù)，任何情況下都能避免操作人員受到散射線輻射

應(yīng)用領(lǐng)域
未知樣品中物相鑒定
混合樣品中已知相定量分析
晶體結(jié)構(gòu)解析（Rievtveld分析）
非常規(guī)條件下晶體變化（高低溫）
薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度、電荷密度
金屬材料織構(gòu)、應(yīng)力分析