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TESCAN掃描電鏡S8000 FE-SEM 系列

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產(chǎn)品型號(hào)S8000 FE-SEM

品       牌

廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

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更新時(shí)間：2024-02-16 15:57:07瀏覽次數(shù)：118次

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經(jīng)營(yíng)模式：經(jīng)銷商

商鋪產(chǎn)品：1325條

所在地區(qū)：上海上海市

聯(lián)系人：百賀儀器

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

TESCAN掃描電鏡S8000 FE-SEM 系列超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡可以提供的圖像質(zhì)量,具有強(qiáng)大的擴(kuò)展分析能力,能夠滿足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和科研的所有需求,不僅適用于的納米分析應(yīng)用,也給操作者帶來(lái)舒適、高效的使用體驗(yàn).

詳細(xì)介紹

創(chuàng)新的電子光學(xué)鏡筒，使電鏡擁有更加出色的超高分辨率

TESCAN S8000配置了的BrightBeam™鏡筒，實(shí)現(xiàn)了無(wú)磁場(chǎng)超高分辨成像，可以的實(shí)現(xiàn)各種分析，包括磁性樣品的分析。

新型鏡筒中的電子光路設(shè)計(jì)增強(qiáng)了低能量電子成像分辨率，特別適合對(duì)電子束敏感樣品和不導(dǎo)電樣品的分析。

另外，EquiPower™透鏡技術(shù)可有效減少能量損耗并保證電子鏡筒的穩(wěn)定性。



BrightBeam™電子光學(xué)鏡筒及探測(cè)器系統(tǒng)
（A）Axial detector (In-Beam)
（B）Multidetector (In-Beam)
（C）E-T detector (In-Chamber)
（D）Retractable BSE (In-Chamber)


配備的多種探測(cè)器，更好的表面靈敏度和對(duì)比度

S8000可配置的多種探測(cè)器，包括透鏡內(nèi)Axial detector 以及 Multidetector，

可選擇不同角度和不同能量來(lái)收集信號(hào)，體現(xiàn)更多種類的信息，同時(shí)獲得更好的表面靈敏度和對(duì)比度。

S8000 FE-SEM的優(yōu)點(diǎn)：

  • 新一代鏡筒內(nèi)電子加速、減速技術(shù)，保證了復(fù)雜樣品的低電壓高分辨觀測(cè)能力
  • 配置的靜電-電磁復(fù)合物鏡，物鏡無(wú)磁場(chǎng)外泄，實(shí)現(xiàn)磁性樣品高分辨成像及分析
  • 配置4個(gè)新一代探測(cè)器，可實(shí)現(xiàn)9種圖像觀測(cè)，對(duì)樣品信息的采集更加全面
  • 配置大型樣品室，有超過(guò)20個(gè)擴(kuò)展接口，為原位觀測(cè)、分析創(chuàng)造了良好的工作環(huán)境
  • 可以配置TESCAN自有或第三方的多種擴(kuò)展分析附件，如EDS、EBSD、CL、EBL，并實(shí)現(xiàn)與Raman聯(lián)用


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