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日本KOSAKA臺(tái)階儀ET200

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更新時(shí)間：2024-02-14 14:39:01瀏覽次數(shù)：127次

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上海百賀儀器科技有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

日本KOSAKA臺(tái)階儀ET200用于測(cè)量半導(dǎo)體硅片、太陽(yáng)能硅片、薄膜磁頭及磁盤(pán)、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層以及平板顯示等。

詳細(xì)介紹

日本KOSAKA臺(tái)階儀ET200介紹
日本KOSAKA臺(tái)階儀ET200基于Windows XP操作系統(tǒng)為多種不同表面提供全面的形貌分析，包括半導(dǎo)體硅片、太陽(yáng)能硅片、薄膜磁頭及磁盤(pán)、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層以及平板顯示等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測(cè)量的方式來(lái)實(shí)現(xiàn)高精度表面形貌分析應(yīng)用。ET200 能精確可靠地測(cè)量出表面臺(tái)階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度、薄膜應(yīng)力等多種表面形貌技術(shù)參數(shù)。
ET200配備了各種型探針，提供了通過(guò)程序控制接觸力和垂直范圍的探頭，彩色CCD原位采集設(shè)計(jì)，可直接觀察到探針工作時(shí)的狀態(tài)，更方便準(zhǔn)確的定位測(cè)試區(qū)域。

日本KOSAKA臺(tái)階儀ET200產(chǎn)品特點(diǎn)
二次元表面解析，可測(cè)量段差
高精度、高分辨率和良好的再現(xiàn)性
FPD面板顯示，可測(cè)定微細(xì)表面形狀、段差、粗度等
低測(cè)定力，可測(cè)定軟質(zhì)材料

日本KOSAKA臺(tái)階儀ET200技術(shù)參數(shù)

型號(hào)		ET200
樣品尺寸		φ160x48mm
樣品臺(tái)	尺寸	φ160
	傾斜度	±2°（X,Y手動(dòng)）
	承重	2Kg
檢出器	觸針力	10μN-500μN（1mg-50mg）
	范圍	600μm（0.1nm分辨率）
	驅(qū)動(dòng)	直動(dòng)式（差動(dòng)變壓器）
	觸針	R2μm 頂角60°
X軸	測(cè)長(zhǎng)	100mm
	直線度	0.02μm/100mm
	速度	0.005-20mm/s
	重復(fù)性	±5μm（定位）
Y軸	測(cè)長(zhǎng)	25mm/手動(dòng)
Z軸	測(cè)長(zhǎng)	50mm
放大倍數(shù)	垂直	50-2000000
放大倍數(shù)	水平	1-10000
監(jiān)控系統(tǒng)	攝像裝置	1/3 inch CCD
	監(jiān)視裝置	視頻捕捉板
	移動(dòng)方法	手動(dòng)
輔助功能		教學(xué)、機(jī)動(dòng)傾斜、傾斜度分析、檢出器自動(dòng)停止功能等
應(yīng)用		成像、臺(tái)階、粗糙度、波紋度和傾斜度
重復(fù)性		1σ1nm
電源		AC90-240V 50/60Hz 300VA
外觀尺寸		W500xD440xH630mm 120Kg（不含防震臺(tái)）