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3936 掃描電遷移率粒徑分布譜儀

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產(chǎn)品型號TSI 3936

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更新時間：2024-11-25 11:14:22瀏覽次數(shù)：79次

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)品詳情TSI的3936掃描電遷移率粒徑分布譜儀是一種高分辨率納米粒子粒徑分析儀，長期以來一直被譽為是進行包括納米研發(fā)在內(nèi)的納米應(yīng)用納米粒徑表征的研究人員之選擇

詳細介紹

產(chǎn)品詳情

TSI 的 3936 掃描電遷移率粒徑分布譜儀是一種高分辨率納米粒子粒徑分析儀，長期以來一直被譽為是進行包括納米研發(fā)在內(nèi)的納米應(yīng)用納米粒徑表征的研究人員之選擇。

TSI 的 SMPS™ 粒徑譜儀廣泛用作檢測空氣懸浮粒子粒徑分布的標準方法。這些粒徑譜儀也經(jīng)常用于對液體中懸浮的粒子進行精確的納米粒徑檢測。.美國國家標準與技術(shù)研究所 (NIST) 采用 TSI DMA 對液體中懸浮的 60nm 和 100nm 標準參考物質(zhì)進行分粒（聚苯乙烯乳膠球或 PSL 球）。

SMPS™ 粒徑譜儀粒徑檢測技術(shù)是一種謹慎的技術(shù)，它可直接檢測粒子濃度，而無需假定粒子尺寸分布形狀。這種方法獨立于粒子或流體的折射率，具有高度的尺寸精度和檢測可重復(fù)性。TSI 3936 掃描電遷移率粒徑分布譜儀 (SMPS) 深受科研人員的信賴，已提供了三十多年的高質(zhì)量數(shù)據(jù)。