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3936 掃描電遷移率粒徑分布譜儀

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產(chǎn)品型號TSI 3936

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廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

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更新時間：2024-11-25 11:14:22瀏覽次數(shù)：138次

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)品詳情TSI的3936掃描電遷移率粒徑分布譜儀是一種高分辨率納米粒子粒徑分析儀，長期以來一直被譽(yù)為是進(jìn)行包括納米研發(fā)在內(nèi)的納米應(yīng)用納米粒徑表征的研究人員之選擇

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品詳情

TSI 的 3936 掃描電遷移率粒徑分布譜儀是一種高分辨率納米粒子粒徑分析儀，長期以來一直被譽(yù)為是進(jìn)行包括納米研發(fā)在內(nèi)的納米應(yīng)用納米粒徑表征的研究人員之選擇。

TSI 的 SMPS™ 粒徑譜儀廣泛用作檢測空氣懸浮粒子粒徑分布的標(biāo)準(zhǔn)方法。這些粒徑譜儀也經(jīng)常用于對液體中懸浮的粒子進(jìn)行精確的納米粒徑檢測。.美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究所 (NIST) 采用 TSI DMA 對液體中懸浮的 60nm 和 100nm 標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì)進(jìn)行分粒（聚苯乙烯乳膠球或 PSL 球）。

SMPS™ 粒徑譜儀粒徑檢測技術(shù)是一種謹(jǐn)慎的技術(shù)，它可直接檢測粒子濃度，而無需假定粒子尺寸分布形狀。這種方法獨(dú)立于粒子或流體的折射率，具有高度的尺寸精度和檢測可重復(fù)性。TSI 3936 掃描電遷移率粒徑分布譜儀 (SMPS) 深受科研人員的信賴，已提供了三十多年的高質(zhì)量數(shù)據(jù)。

特點(diǎn)和優(yōu)勢

  • 高分辨率數(shù)據(jù) – 多達(dá) 167 個通道
  • 寬粒徑范圍 – 2.5 nm 至 1,000 nm
  • 快速檢測 – 16 秒內(nèi)完成粒徑分布
  • 1 - 107粒子/cm3的寬濃度范圍
  • 靈活的配置選項(xiàng)；水或丁醇 CPC 工作溶液選擇；放射性或非放射性中和器選擇
  • 計(jì)算機(jī)自動化流量控制
  • 符合 ISO 15900:2009 標(biāo)準(zhǔn)要求的粒徑檢測方法
  • 易于配置和操作
  • 謹(jǐn)慎的粒子檢測： 適用于多模式樣本，不受粒子的光學(xué)特性約束。

應(yīng)用范圍

  • 納米科技研究和材料合成
  • 大氣研究和環(huán)境監(jiān)測
  • 燃燒和發(fā)動機(jī)排氣研究
  • 室內(nèi)空氣質(zhì)量檢測
  • 成核研究/凝結(jié)研究
  • 吸入毒理學(xué)研究

所含項(xiàng)

  • DMA 可選式靜電分級器
  • 六個 CPC 之一
  • Aerosol Instrument Manager® 軟件

關(guān)鍵詞：環(huán)境監(jiān)測

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