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廣東正業(yè)科技股份有限公司
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品牌:菲希爾樣品電大高度:140mmX/Y軸平臺移動速度:60mm/s
X-RAY XDV-SDD是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層側厚及材料分析儀。它特別適合用于測量和分析超薄鍍層及進行痕量分析。其配備了高精度、可編程的X/Y軸工作臺,是全自動測量樣品的理想設備。
1.分析超薄鍍層,如:厚度≤0.1um的Au和Pa鍍層;
2.印刷線路板上RoHs及WEEE要求的痕量分析;
3.黃金成分分析
4.測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層;
5.分析復雜的多鍍層系統(tǒng);
6.全自動測量,如:用于質量控制領域。
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主營產品:研磨機,自動取樣機,離子污染測試儀,剝離強度測試儀,X光檢查機,孔徑孔數檢查機,特性阻抗測試儀,自動外觀檢查儀,V槽殘厚測量儀
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