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子元器件老化測試，蒸氣老化試驗(yàn)箱
湖北高天蒸汽老化試驗(yàn)箱，蒸汽老化試驗(yàn)箱適用于子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片阻容、零組件產(chǎn)業(yè)、子零組件金屬等材料進(jìn)行老化加速壽命試驗(yàn)。
蒸汽老化試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)型號：
產(chǎn)品型號：GT-ZQ-34
內(nèi)部尺寸：50X40X17 CM （W*H*D）
外部尺寸：60X50X42 CM （W*H*D）
溫度范圍：Upto97℃
控制器：PID微腦控制
加熱方式：PID+SSR
升溫時(shí)間：約45分鐘
計(jì)時(shí)器：9999分
壓：220V
熱（KW）：2
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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