LAB-H1型智能數(shù)顯超聲波硬度計(jì)
目前，硬度測試可采用的方法很多，如布氏、洛式、維氏、里氏、超聲波法等。其中布氏和洛式對被測物表面損傷較大、而維氏成本較高，且都不能測試大型工件；里氏硬度計(jì)屬間接測量硬度，測試布氏、洛式、維氏偏差較大。隨著微處理器的技術(shù)發(fā)展，超聲波無損檢測方法已獲得了行業(yè)認(rèn)可，其中超聲波測厚儀和探傷儀已經(jīng)廣泛應(yīng)用，而超聲波硬度計(jì)也在國外普及。
LAB-H1 超聲波硬度計(jì)原理
使硬度計(jì)金剛石壓頭與被測件接觸，在均勻的接觸壓力下，探測頭的諧振頻率隨硬度而改變，通過計(jì)量該頻率的變化達(dá)到測量硬度的目的，該方法對被測件的損傷極小，與上述其它方法相比具有很大的*性。基于以上原理，我公司引進(jìn)歐洲原裝超聲波硬度計(jì)探頭，研制出精度高、功能強(qiáng)大的LAB-H1型智能數(shù)顯超聲波硬度計(jì)。
超聲波硬度計(jì)原理公式：HV=F/（△f，Eeff）， △f代表頻率變化量、Eeff代表彈性模量、F是彈簧壓緊力。
應(yīng)用場合
LAB-H1超聲波硬度計(jì)可測量的工件部位包括法蘭盤邊緣和齒輪根部沖壓件；工模、薄板；表面硬化的齒和齒輪的測量；錐度部分硬度測量；軸和薄壁管道、容器的測量；車輪、渦輪轉(zhuǎn)子的硬度測量；鉆頭的刀口的硬度測量；焊接部位；
LAB-H1超聲波硬度計(jì)功能特點(diǎn)
o 測定與金屬、合金洛氏（HRC）, 布氏 （HB）, 維氏 （HV）標(biāo)準(zhǔn)硬度制
o 通過三個(gè)用戶模式測量不同屬性的金屬（如有色金屬, 高合金等.）
o 符合標(biāo)準(zhǔn)JBT 9377-2010、ASTM A1038-2005、DIN50159
o 通過布氏硬度可自動計(jì)算出抗拉強(qiáng)度
o 可測量厚度超過1毫米的各種部件（工模、齒輪、薄板、管道、水箱等等）
o 對曲軸*等鏡面產(chǎn)生的劃痕極小
o 測量范圍寬
o 使用簡單方便，測量快速準(zhǔn)確
o 可自行校準(zhǔn)儀器（通過兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣塊可對儀器測值校準(zhǔn)）
o 液晶顯示，帶背光
o 自由選擇10N、50N、100N探頭，儀器自動識別
o 不受測量物內(nèi)側(cè)情況影響，適用于復(fù)雜外形和難以接觸的部位
o 測量方向可以全方向自由變化—上下左右不論哪個(gè)方向都可不用補(bǔ)償直接測量
LAB-H1超聲波硬度計(jì)技術(shù)參數(shù)
| 測試范圍 洛氏硬度, HRC 布氏硬度, HB 維氏硬度, HV 抗拉強(qiáng)度, MPa | 20 - 70 90 - 450 230 - 940 370 - 1740 |
| 誤差范圍 洛氏硬度, HRC 布氏硬度, HB 維氏硬度, HV |
± 1 ± 3% ± 3% |
| 外形尺寸, mm | 122x65 x22 |
| 操作溫度° C | -5至+40 |
| 電源 | 2節(jié)AA電池 |
| 持續(xù)工作時(shí)間, 不少于 | 100小時(shí) |
| 主機(jī)重量, kg | 0.9千克 |
訂貨型號
| 名稱型號 | 產(chǎn)品描述 |
| 超聲波硬度計(jì) LAB-H1 | 標(biāo)配進(jìn)口超聲波探頭一支 |
| 復(fù)合式硬度計(jì) LAB-H2 | 標(biāo)配進(jìn)口超聲波和里氏兩種探頭 |
| 里氏硬度計(jì) LAB-H3 | 標(biāo)配進(jìn)口里氏探頭一支 |
標(biāo)準(zhǔn)配置清單
o 主機(jī)
o 超聲波標(biāo)準(zhǔn)探頭50N（也可選擇10N或100N探頭）
o 2節(jié)AA電池
o 說明書
o 線纜
o 儀器便攜包裝
o 2個(gè)硬度標(biāo)準(zhǔn)塊
可選配置
o 10N探頭和100N探頭
o 充電器
o 校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)試塊
超聲波探頭和里氏探頭的技術(shù)參數(shù)
| 測試裝置 | 超聲波探頭 | 里氏探頭 |
| 長度： | 160mm | 140mm |
| 直徑 | 25mm | 25mm |
| 壓痕深度 | 30μm | 300 μm |
| 壓力 | 14.7N | 11Nm |
| 傳感器測試壽命
（大約） | 200,000 | 50,000 |
| zui小測試厚度
（鋼） | 1mm | 12mm |
| zui小測試半徑 | 5mm | 10mm |
| zui大表面粗糙度 | Ra 2.5 μm | Ra 3.2 μm |
| 數(shù)據(jù)存儲 | 1000個(gè)測試值 | 100個(gè)測試值 |
| 測試時(shí)間 | 4秒 | 2秒 |
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