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HQT-IA 多層鎳電解鍍層測(cè)厚儀

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更新時(shí)間：2022-08-22 15:12:12瀏覽次數(shù)：235次

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HQT-IA多層鎳電解鍍層測(cè)厚儀是新一代的金屬鍍層電解測(cè)厚儀，該儀器是根據(jù)電化學(xué)中的庫(kù)侖定理（Q=nF）與現(xiàn)代微電腦技術(shù)結(jié)合的產(chǎn)物，具有結(jié)構(gòu)*，性能穩(wěn)定可靠，功能齊全的特點(diǎn)

詳細(xì)介紹

HQT-IA 多層鎳電解鍍層測(cè)厚儀是新一代的金屬鍍層電解測(cè)厚儀，該儀器是根據(jù)電化學(xué)中的庫(kù)侖定理（Q=nF）與現(xiàn)代微電腦技術(shù)結(jié)合的產(chǎn)物，具有結(jié)構(gòu)*，性能穩(wěn)定可靠，功能齊全的特點(diǎn)。對(duì)多數(shù)非合金型的金屬鍍層厚度的測(cè)定適用，是國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中*的一種測(cè)厚方法---庫(kù)侖法類儀器。使用本儀器還可以幫助用戶找到適合不同要求的電鍍工藝，是有關(guān)成品廠及電鍍廠的儀器。本產(chǎn)品榮獲國(guó)家輕工部科技成果三等獎(jiǎng)。

技術(shù)參數(shù)：

測(cè)量原理	利用與鍍層、基材相對(duì)應(yīng)的電解液、在一定的電流所溶解的硬度和時(shí)間成正比，來(lái)測(cè)定膜厚的一種測(cè)量方（卻運(yùn)用電化學(xué)中的庫(kù)侖法來(lái)測(cè)定膜厚）；測(cè)量電位差是利用不同鎳層之間的電位差異來(lái)反映各層鎳的厚度及層間電位差
可測(cè)定材料	可被電解液所電解金屬鍍層，如：鋼、鎳、鉻、鋅、銀、金、錫等及多層鎳的層間電位差
測(cè)量范圍	0.03微米～99.99微米，電位差：-100mV～+400mV
準(zhǔn)確度	厚度為±10%，電位差為±5%
復(fù)現(xiàn)精度	＜5%
測(cè)量質(zhì)表示	LED4位顯示，其中兩位為小數(shù)。打印輸出四位數(shù)字，其中兩位為小數(shù)；繪圖儀輸出電位差曲線，繪圖儀輸出的圖形是X軸代表電位(mv)，Y軸代表厚度(微米u(yù)m)的座標(biāo)軸上顯示的比例曲線
測(cè)量面積	A橡皮墊圈-直徑2.5mm，B皮墊圈-直徑1.7mm
性能特點(diǎn)	操作簡(jiǎn)便，復(fù)現(xiàn)性好，可測(cè)量單層，復(fù)合型電鍍，具有內(nèi)置微電腦，通過(guò)微電腦處理，直觀顯示各層厚度及電位差