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XRF-2000電鍍層測(cè)厚儀

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更新時(shí)間：2024-10-06 08:08:32瀏覽次數(shù)：86次

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  鍍層測(cè)厚儀

測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片（校正片）

PCB孔銅測(cè)厚儀

X-RAY熒光鍍層測(cè)厚儀

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深圳市巨杰儀器設(shè)備有限公司

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X射線熒光鍍層測(cè)厚儀,Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測(cè)厚儀能提供金屬鍍層厚度的測(cè)量,同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析,不單性能,而且價(jià)錢(qián)*.只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果,,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動(dòng)XYZ樣品臺(tái),鐳射自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng),十字線自動(dòng)調(diào)整.超大/開(kāi)放式的樣品臺(tái),可測(cè)量較大的產(chǎn)品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的*.可測(cè)量各類(lèi)金屬層、合金層厚度等?？蓽y(cè)元素范圍：鈦（Ti） – 鈾（U）可測(cè)量厚度范圍：原子序 22-25，0.1-0.8μm 26-40，0.05-35μm 43-52，0.1-100μm 72-82，0.05-5μm X-射線管：油冷,超微細(xì)對(duì)焦
高壓：0-50KV（程控）準(zhǔn)直器：固定種類(lèi)大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm
自動(dòng)種類(lèi)大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm電腦系統(tǒng)：IBM相容,17”顯示器綜合性能:鍍層分析定性分析定量分析鍍液分析鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度（如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等）,簡(jiǎn)單的核對(duì)方式,無(wú)需購(gòu)買(mǎi)標(biāo)準(zhǔn)藥液.定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.光譜對(duì)比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對(duì)比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來(lái)料的純度.統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y(cè)量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便有效的控制品質(zhì).

24小時(shí)業(yè)務(wù) ：139 許

關(guān)鍵詞：鍍層測(cè)厚儀測(cè)厚儀顯示器