T1.T2.T3試塊，亦稱對(duì)比試塊

T1試塊

對(duì)比試塊應(yīng)采用與被檢測(cè)工件材質(zhì)相同或聲學(xué)特性相近的材料，并采用相同的焊接工藝制成。其母材、熔合面和堆焊層中均不得有或等于Φ2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷存在。試塊堆焊層表面的形態(tài)和工作堆焊層的表面形態(tài)相同。

從堆焊層側(cè)進(jìn)行檢測(cè)采用T1型試塊，母材厚度T至少應(yīng)為堆焊層厚度的2倍。

T2試塊

從母材側(cè)進(jìn)行檢測(cè)采用T2型試塊，母材厚度T與被測(cè)基板的厚度差不得超過10%。如果工件厚度比較大，T2試塊的長(zhǎng)度L應(yīng)能滿足檢測(cè)要求。

T3試塊

用于雙晶直探頭、單晶直探頭凌密度的校準(zhǔn)。

相關(guān)產(chǎn)品：
SBS-3滲透探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊   不銹鋼鍍鉻滲透標(biāo)準(zhǔn)試塊   鋁合金滲透對(duì)比試塊   D型磁粉探傷用試片 
M1型磁粉檢測(cè)試片          小徑管試塊             階梯試塊   荷蘭試塊   LS-1螺栓試塊
3.DL/T718-2000標(biāo)準(zhǔn)火力發(fā)電廠鑄造三通、彎頭超聲波試塊
TP-1試塊
TP-2試塊
TP-3試塊
4.DL/t505-1992標(biāo)準(zhǔn)汽輪機(jī)焊接轉(zhuǎn)子超聲波探傷試塊（SDQ-1）
SDQ-IA試塊
SDQ-IB試塊
5.互環(huán)探傷試塊
A型試塊
6.支柱絕緣子及瓷套超聲波檢驗(yàn)試塊
支柱絕緣子試塊
瓷絕緣子探傷試塊JYZ-1
瓷絕緣子探傷試塊JYZ-2
瓷絕緣子探傷試塊JYZ-3
便攜式JYZ-BX試塊（帶翻轉(zhuǎn)支架）
7.轉(zhuǎn)子試塊
標(biāo)準(zhǔn)試塊CW-1-1-45°
3mm裂紋試塊CW-1-3-45°
64mm裂紋試塊CW-1-45°（助探角45°轉(zhuǎn)子試塊）
直徑2mm孔特殊位置試塊CW-1-6-45°
標(biāo)準(zhǔn)試塊CW-2-D-61°